Когут Михайло Тихонович

Номер патенту: 22455

Опубліковано: 25.04.2007

Автори: Гинько Ігор Володимирович, Білоцька Алла Олексіївна, Низкова Ганна Іванівна, Молодкін Вадим Борисович, Когут Михайло Тихонович, Григор'єв Данило Олегович, Барабаш Роза Ісаківна, Шпак Анатолій Петрович

МПК: G01N 23/20

Мітки: досконалості, визначення, монокристалів, структурної, спосіб

Формула / Реферат:

Спосіб визначення структурної досконалості монокристалів, що включає визначення товщини поверхневого порушеного шару у монокристалах після механічної обробки та полягає в тому, що на досліджуваний монокристал спрямовують пучок монохроматичного рентгенівського випромінювання, здійснюють асиметричну Брегг-дифракцію, попередньо визначають кути падіння рентгенівського випромінювання на поверхню зразка, яким відповідають спрямовуючі косинуси

Номер патенту: 11259

Опубліковано: 15.12.2005

Автори: Низкова Ганна Іванівна, Білоцька Алла Олексіївна, Григор'єв Данило Олегович, Когут Михайло Тихонович, Молодкін Вадим Борисович, Гинько Ігор Володимирович, Барабаш Роза Ісаківна, Шпак Анатолій Петрович

МПК: G01N 23/20

Мітки: поверхневого, механічної, обробки, визначення, спосіб, порушеного, шару, товщини, монокристалах

Формула / Реферат:

Спосіб визначення товщини поверхневого порушеного шару в монокристалах після механічної обробки, що включає направлення на досліджуваний монокристалічний зразок пучка монохроматичного рентгенівського випромінювання, здійснення дифракції, вимірювання інтенсивності дифрагованого випромінювання і визначення товщини порушеного шару, який відрізняється тим, що здійснюють асиметричну Брегг-дифракцію, попередньо визначають кути падіння...

Номер патенту: 19220

Опубліковано: 25.12.1997

Автори: Гуреєв Микола Анатолійович, Кривицький Владислав Петрович, Оліховський Степан Йосифович, Кшевецький Станіслав Антонович, Осиновський Максим Євгенович, Бар'яхтар Віктор Григорович, Остапчук Анатолій Іванович, Когут Михайло Тихонович, Бідник Дмитро Ілліч, Немошкаленко Володимир Володимирович, Молодкін Вадим Борисович, Литвинов Юрій Михайлович, Гуреєв Анатолій Миколайович, Низкова Ганна Іванівна, Ковальчук Михайло Валентинович, Поленур Олександр Вольфович, Шпак Анатолій Петрович, Кисловський Євген Миколайович

МПК: G01N 23/20

Мітки: структурної, досконалості, визначення, монокристалів, спосіб, динамічної, розсіюючих

Формула / Реферат:

Способ определения структурного совершенства динамически рассеивающих монокристаллов, согласно котором исследуемый образец облучают полихроматическим пучком рентгеновского излучения и измеряют интегральную интенсивность рефлексов при дифракции излучения для двух положений при повороте образца и определяют статический фактор Дебая-Валлера Lн, отличающийся тем, что дифракцию излучения в обоих положениях образца осуществляют в геометрии Брэгга,...

Номер патенту: 20094

Опубліковано: 25.12.1997

Автори: Кисловський Євген Миколайович, Низкова Ганна Іванівна, Оліховський Степан Йосипович, Гурєєв Анатолій Миколайович, Гаврилова Олена Миколаївна, Немошкаленко Володимир Володимирович, Лось Андрій Вікторович, Молодкін Вадим Борисович, Когут Михайло Тихонович, Кривицький Владислав Петрович

МПК: G01N 23/20

Мітки: експресного, досконалості, монокристалів, розсіюють, динамічної, контролю, структурної, спосіб

Формула / Реферат:

Способ экспрессного контроля структурного совершенства динамически рассеивающих монокристаллов, согласно которому исследуемый образец облучают пучком рентгеновского излучения, осуществляют брэгг-дифракцию, измеряют интегральную интенсивность отражения, поворачивают образец таким образом, чтобы реализовалось брэгг-отражение, характеризующееся тем же вектором дифракции, измеряют его интегральную интенсивность, рассчитывают по измеренным...

Номер патенту: 17146

Опубліковано: 18.03.1997

Автори: Кисловський Євген Миколайович, Коhrа К., Когут Михайло Тихонович, Кютт Регінальд Миколайович, Гинько Ігор Володимирович, Бар'яхтар Віктор Григорович, Немошкаленко Володимир Володимирович, Оліховський Степан Йосипович, Грищенко Тарас Аркадійович, Молодкін Вадим Борисович, Ковальчук Михайло Валентинович, Низкова Ганна Іванівна, Шпак Анатолій Петрович, Сhікаwа J.

МПК: G01N 23/22, G01B 15/00

Мітки: контролю, досконалостів, монокристалів, структурної, спосіб

Формула / Реферат:

Способ контроля структурного совершенства монокристаллов, включающий облучение исследуемого образца известной толщины  пучком рентгеновского излучения с длиной волны  выбранной из условия  осуществление в нем лауэ-дифракции, характеризуемой вектором дифракции при наклоне образца в угловом диапазоне  вокруг вектора  с сохранением дифракционных условий, измерение толщинной зависимости полной интегральной отражательной способности (ПИОС)  где...

Номер патенту: 14831

Опубліковано: 18.02.1997

Автори: Гинько Ігор Володимирович, Низкова Ганна Іванівна, Кисловський Євген Миколайович, Бар'яхтар Віктор Григорович, Шпак Анатолій Петрович, Когут Михайло Тихонович, Грищенко Тарас Аркадійович, Кютт Регінальд Ніколаєвіч, Ковальчук Міхаіл Валєнтіновіч, Оліховський Степан Йосипович, Молодкін Вадим Борисович, Немошкаленко Володимир Володимирович

МПК: G01N 23/20

Мітки: досконалості, спосіб, монокристалів, контролю, структурної

Формула / Реферат:

Способ контроля структурного совершенства монокристаллов, заключающийся в том, что исследуемый кристалл-образец толщиной  облучают пучком рентгеновского излучения с длиной волны  выбранной из условия  - линейный коэффициент фотоэлектрического поглощения), осуществляют на нем лауэ-дифракцию с вектором дифракции  измеряют толщинные зависимости интегральной отражательной способности образца  где   путем наклона образца в угловом диапазоне  от...

Номер патенту: 3699

Опубліковано: 27.12.1994

Автори: Оліховський Степан Йосипович, Молодкін Вадим Борисович, Низкова Ганна Іванівна, Осиновський Максим Євгенович, Кисловський Євген Миколайович, Сторижко Володимир Юхимович, Литвинов Юрій Михайлович, Гурєєв Анатолій Миколайович, Ковальчук Михайло Валентинович, Гурєєв Микола Анатолійович, Полінур Олександр Вольфович, Когут Михайло Тихонович, Немошкаленко Володимир Володимирович, Кривицький Владислав Петрович, Курбаков Олександр Іванович

МПК: G01N 23/20

Мітки: динамічної, монокристалів, розсіюючий, досконалості, контролю, спосіб, структурної

Формула / Реферат:

Способ контроля структурного совершенства динамических рассеивающих монокристаллов, за­ключающийся в том, что исследуемый образец толщиной t облучают полихроматическим пучком рентгеновского излучения, осуществляют лауэ-дифракцию излучения длины волны t, выбранной из условия, налагаемого на производстве m (l)1, где m - коэффициент фотоэлектрического погло­щения на определенной системе плоскостей, изме­ряют интегральные интенсивности JRH (l)...