Спосіб визначення залишкових напружень

Номер патенту: 28383

Опубліковано: 10.12.2007

Автори: Антонюк Віктор Степанович, Копейкіна Марина Юріївна, Сорока Олена Борисівна, Клименко Сергій Анатолійович

МПК: G01L 1/06

Мітки: структурних, визначення, покриттях, складових, температурних, спосіб, напружень, залишкових

Формула / Реферат:

Спосіб визначення структурних і температурних складових залишкових напружень в покриттях, що включає реєстрацію параметра відхилення зразка від прямолінійного положення і визначення залишкових напружень, який відрізняється тим, що як параметр відхилення від прямолінійного положення вибирають прогин зразка довжиною а, вимірюють його величину в холодному стані , нагрівають...

Номер патенту: 82882

Опубліковано: 26.05.2008

Автори: Бякова Олександра Вікторівна, Власов Андрій Олексійович, Голубенко Олексій Анатолійович, Гончарова Ірина Вадимівна, Мільман Юлій Вікторович, Чугунова Світлана Іванівна

МПК: G01N 3/00, G01L 1/00, G01N 3/40

Мітки: спосіб, визначення, напружень, залишкових

Формула / Реферат:

1. Спосіб визначення залишкових напружень, який включає вдавлювання пірамідального індентора в поперечний переріз покриття або шару матеріалу до отримання відбитку твердості при орієнтації його діагоналей ортогонально напряму дії залишкових напружень, при цьому реєструють зусилля вдавлювання, вимірюють після розвантаження геометричні параметри відбитку, з урахуванням яких визначають залишкові напруження, який відрізняється тим, що...

Номер патенту: 31782

Опубліковано: 15.12.2000

Автори: Коломоєць Володимир Васильович, Будзуляк Сергій Іванович, Єрмаков Валерій Миколайович, Демчина Любомир Андрійович, Доценко Юрій Павлович, Венгер Євген Федорович

МПК: G01L 3/00, G01L 1/06

Мітки: напружень, багатодолинних, кристалах, напівпровідникових, спосіб, залишкових, механічних, визначення

Текст:

...простого, більш точного та більш досконалого, в порівнянні з існуючими аналогами, способу визначення залишкових механічних напружень в кристалах багатодолинних напівпровідників, що виникають в процесі їх вирощування, змін в результаті проведення різного роду технологічних відпалів або в результаті іншого впливу на напівпровідниковий матеріал Вирішення цієї задачі здійснюється шляхом проведення вимірів зміни поздовжнього опору пари зразків...

Номер патенту: 40763

Опубліковано: 15.08.2001

Автори: Мигаль Валерій Павлович, Чугай Олег Миколаєвич, Клименко Ігор Андрійович

МПК: G01N 21/21, G01L 1/06, G01N 29/04, G01B 11/16

Мітки: залишкових, спосіб, матеріалах, кристалічних, напружень, визначення

Формула / Реферат:

1. Спосіб визначення залишкових напружень в кристалічних матеріалах шляхом оптико-поляризаційних вимірювань в кристалічних зразках, який відрізняється тим, що в зразках правильної геометричної форми збуджують низькочастотні сильні власні коливання, вимірюючи при цьому їх частоти і амплітуди, та фотографують їх оптико-поляризаційні голограми і вимірюють локальний зсув нейтральних вузлових .ліній на голограмах, який пропорційний величині...

Номер патенту: 6123

Опубліковано: 15.04.2005

Автори: Арбузов Максим Анатолійович, Рибкін Віктор Васильович

МПК: G01N 27/00, G01L 1/12

Мітки: визначення, рейці, характеру, спосіб, напружень, статичного, механічних

Формула / Реферат:

Спосіб визначення механічних напружень статичного характеру в рейці, при якому зразок рейки закріплюють в захоплювачі навантажувального пристрою, встановлюють на зразок магнітопружний датчик з ортогонально розміщеними намагнічувальним та вимірювальним магнітопроводами та обмотками на них, повертають магнітопружний датчик навколо осі, що перпендикулярна площині полюсів магнітопроводів, на кут α, вимірюють вихідний сигнал на вимірювальній...