Мигаль Валерій Павлович
Спосіб польової обробки п’єзоелектричних кристалічних матеріалів
Номер патенту: 104184
Опубліковано: 10.01.2014
Автори: Бут Андрій Володимирович, Мигаль Валерій Павлович, Фомін Олександр Сергійович
МПК: H03H 3/00, H01L 21/263, H01L 41/22 ...
Мітки: спосіб, п'єзоелектричних, кристалічних, обробки, матеріалів, польової
Формула / Реферат:
Спосіб польової обробки п'єзоелектричних кристалічних матеріалів шляхом монохроматичного підсвічування кристала та одночасного прикладення до нього змінного електричного поля на частотах, визначених з частотної залежності коефіцієнта нелінійних спотворень , який відрізняється тим, що вимірюють частотну...
Спосіб електроакустичної обробки п’єзоелектричних кристалічних матеріалів
Номер патенту: 93947
Опубліковано: 25.03.2011
Автори: Клименко Ігор Андрійович, Бут Андрій Володимирович, Мигаль Валерій Павлович, Фомін Олександр Сергійович
МПК: H01L 21/263
Мітки: матеріалів, електроакустичної, кристалічних, п'єзоелектричних, обробки, спосіб
Формула / Реферат:
Спосіб електроакустичної обробки п'єзоелектричних кристалічних матеріалів шляхом монохроматичного підсвічування кристала та прикладання змінного електричного поля на визначених частотах f, який відрізняється тим, що для кристала послідовно вимірюють спектри фотоструму I(l) при однакових умовах, перетворюють отриману послідовність спектрів фотоструму в пакет параметричних сигнатур I(l)-dI/dl, за найбільшим розмиттям фазових траєкторій яких...
Спосіб електроакустичної обробки п’єзоелектричних кристалічних матеріалів
Номер патенту: 88531
Опубліковано: 26.10.2009
Автори: Фомін Олександр Сергійович, Бут Андрій Володимирович, Мигаль Валерій Павлович
МПК: H01L 21/00
Мітки: спосіб, кристалічних, обробки, п'єзоелектричних, електроакустичної, матеріалів
Формула / Реферат:
Спосіб електроакустичної обробки п’єзоелектричних кристалічних матеріалів шляхом збудження найбільш нестабільних власних пружних коливань з використанням генератора сигналів довільної форми та вимірювання при цьому їх частоти, амплітуди та стабільності в часі, який відрізняється тим, що з частот найбільш нестабільних власних пружних коливань, шляхом суперпозиції, синтезують хвильовий пакет, форма якого подібна до короткої хвилі - вейвлету,...
Спосіб визначення розподілу неоднорідностей структури кристала
Номер патенту: 78121
Опубліковано: 15.02.2007
Автори: Фомін Олександр Сергійович, Мигаль Валерій Павлович
МПК: G01B 11/16, G06F 1/00
Мітки: неоднорідностей, спосіб, визначення, структури, розподілу, кристала
Формула / Реферат:
1. Спосіб визначення розподілу неоднорідностей структури кристала шляхом сканування кристала монохроматичним світловим зондом і вимірювання діелектричних параметрів, який відрізняється тим, що при скануванні поверхні кристала визначають залежність швидкості приросту (спаду) діелектричної проникності та коефіцієнта діелектричних втрат
Спосіб визначення фотоактивних центрів в кристалічних матеріалах
Номер патенту: 77464
Опубліковано: 15.12.2006
Автори: Комарь Віталій Корнійович, Сулима Сергій Віталійович, Абашин Сергій Леонідович, Пузіков В'ячеслав Михайлович, Мигаль Валерій Павлович, Чугай Олег Миколайович
МПК: G01N 21/63, G01J 1/10
Мітки: спосіб, матеріалах, кристалічних, визначення, фотоактивних, центрів
Формула / Реферат:
1. Спосіб визначення фотоактивних центрів в кристалічних матеріалах шляхом вимірювання залежності ефективної діелектричної проникності і коефіцієнта діелектричних втрат зразка від довжини хвилі фотозбудження та побудови відповідних діаграм в комплексній площині з використанням вимірювання при планарній та об'ємній схемах розміщення електродів на зразку, визначення значень довжини хвилі λі фотозбудження як таких, що відповідають...
Спосіб оцінювання електрокардіографічних даних для діагностичних цілей
Номер патенту: 77203
Опубліковано: 15.11.2006
Автори: Мигаль Галина Валеріївна, Мигаль Валерій Павлович
МПК: A61B 5/0402
Мітки: спосіб, даних, електрокардіографічних, цілей, діагностичних, оцінювання
Формула / Реферат:
1. Спосіб оцінювання електрокардіографічних даних для діагностики захворювань серцево-судинної системи, який відрізняється тим, що а) прецизійно визначають: форми кривих V(t) ЕКГ; швидкість приросту/спаду електричного потенціалу з часом dV(t) під час запису сигналу з різних ділянок тіла; форму, висоту зубців P, Q, R, S, T й інтервали між ними; б) диференціюють залежність dV(t), отримуючи функціональну...
Спосіб визначення фотоактивних центрів в кристалічних матеріалах
Номер патенту: 66107
Опубліковано: 15.04.2004
Автори: Комарь Віталій Корнійович, Сулима Сергій Віталійович, Мигаль Валерій Павлович, Абашин Сергій Леонідович, Чугай Олег Миколаєвич
МПК: G01N 13/10
Мітки: центрів, спосіб, визначення, кристалічних, матеріалах, фотоактивних
Формула / Реферат:
1. Спосіб визначення фотоактивних центрів в кристалічних матеріалах шляхом вимірювання залежності ефективних діелектричної проникності і коефіцієнта діелектричних втрат зразка від довжини хвилі фотозбудження та побудови відповідних діаграм в комплексній площині, який відрізняється тим, що вимірювання послідовно виконують при поверхневій та об'ємній схемах розміщення електродів на зразку та його збудження, граничні довжини хвиль
Спосіб вимірювання приповерхневого електростатичного потенціалу в напівпровіднику
Номер патенту: 65426
Опубліковано: 15.03.2004
Автори: Чугай Олег Миколайович, Пузіков В'ячеслав Михайлович, Сулима Сергій Віталійович, Олійник Сергій Володимирович, Комарь Віталій Корнійович, Мигаль Валерій Павлович
МПК: G01N 13/10
Мітки: спосіб, електростатичного, приповерхневого, напівпровіднику, вимірювання, потенціалу
Формула / Реферат:
Спосіб вимірювання приповерхневого електростатичного потенціалу в напівпровіднику, що включає отримання залежності від довжини хвилі фотозбудження приросту ефективних значень діелектричної проникності і коефіцієнта діелектричних втрат зразка, побудову в комплексній площині відповідних діаграм, з яких визначається характеристична довжина хвилі λi та глибина залягання відповідного енергетичного рівня відносно верхньої межі валентної зони...
Спосіб визначення розподілу неоднорідностей структури кристала
Номер патенту: 62758
Опубліковано: 15.12.2003
Автори: Чугай Олег Миколайович, Фомін Олександр Сергійович, Рибалка Ірина Анатоліївна, Клименко Ігор Андрійович, Мигаль Валерій Павлович
МПК: G01B 11/00, G01B 11/16
Мітки: визначення, розподілу, спосіб, структури, неоднорідностей, кристала
Формула / Реферат:
Спосіб визначення розподілу неоднорідностей структури кристала шляхом сканування кристала монохроматичним світловим зондом і вимірювання діелектричних параметрів, який відрізняється тим, що визначають залежність коефіцієнта діелектричних втрат зразка від частоти електричного поля в ненавантаженому стані, визначають частоту поля, що відповідає максимуму коефіцієнта діелектричних втрат, на визначеній частоті визначають залежність коефіцієнта...
Спосіб акустичної обробки п’єзоелектричних кристалічних матеріалів
Номер патенту: 62757
Опубліковано: 15.12.2003
Автори: Клименко Ігор Андрійович, Фомін Олександр Сергійович, Мигаль Валерій Павлович, Сулима Сергій Віталійович, Чугай Олег Миколайович
МПК: H01L 21/00, H01L 21/263
Мітки: матеріалів, акустичної, кристалічних, спосіб, п'єзоелектричних, обробки
Формула / Реферат:
Спосіб акустичної обробки п'єзоелектричних кристалічних матеріалів шляхом послідовного збудження найбільш нестабільних власних пружних коливань та вимірювання при цьому їх частоти, амплітуди та стабільності в часі, який відрізняється тим, що в кристалічному зразку збуджують високочастотні власні пружні коливання, які промодульовані прямокутними імпульсами при одночасному монохроматичному підсвічуванні з області максимуму домішкової...
Спосіб визначення залишкових напружень в кристалічних матеріалах
Номер патенту: 40763
Опубліковано: 15.08.2001
Автори: Чугай Олег Миколаєвич, Мигаль Валерій Павлович, Клименко Ігор Андрійович
МПК: G01N 21/21, G01B 11/16, G01L 1/06 ...
Мітки: залишкових, напружень, кристалічних, матеріалах, спосіб, визначення
Формула / Реферат:
1. Спосіб визначення залишкових напружень в кристалічних матеріалах шляхом оптико-поляризаційних вимірювань в кристалічних зразках, який відрізняється тим, що в зразках правильної геометричної форми збуджують низькочастотні сильні власні коливання, вимірюючи при цьому їх частоти і амплітуди, та фотографують їх оптико-поляризаційні голограми і вимірюють локальний зсув нейтральних вузлових .ліній на голограмах, який пропорційний величині...
Спосіб акустичної обробки п’єзоелектричних кристалічних матеріалів
Номер патенту: 40800
Опубліковано: 15.08.2001
Автори: Клименко Ігор Андрійович, Мигаль Валерій Павлович
МПК: H01L 21/26, H01L 21/00
Мітки: п'єзоелектричних, обробки, матеріалів, кристалічних, спосіб, акустичної
Формула / Реферат:
1. Спосіб акустичної обробки п'єзоелектричних кристалічних матеріалів шляхом збудження акустичних коливань, який відрізняється тим, що в кристалічному зразку, вміщеному в змінне електричне поле, за рахунок зворотного п'езоефекту збуджують низькочастотні власні пружні коливання, вимірюючи при цьому їх частоти, амплітуди та стабільність в часі, далі визначають сильні п'езорезонанси, швидкість зміни частоти яких з часом максимальна, і послідовно...
Спосіб визначення місцеположення та функціонального стану точок акупунктури
Номер патенту: 30578
Опубліковано: 15.12.2000
Автори: Іванов Віктор Георгійович, Мигаль Валерій Павлович, Мигаль Галина Валерьївна
МПК: A61H 39/00
Мітки: стану, точок, місцеположення, спосіб, визначення, акупунктури, функціонального
Текст:
...токи и напряжения, а, как следствие, исключается травматизм. Поиск ТА производят общепринятым способом (по классической топографии) Местоположение ТА определяют посредством одновременного измерения емкости С и тангенса угла ди ¶ 2C = 0. Максимальное увеличение емкости и ¶f 2 тангенса угла диэлектрических потерь или одного из этих параметров свидетельствует о попадании центрального электрода в ТА. При этом функциональное состояние ТА...