Спосіб виміру фактичної площі контакту
Номер патенту: 58790
Опубліковано: 15.08.2003
Формула / Реферат
Спосіб виміру фактичної площі контакту шляхом зближення двох контактуючих зразків під дією статичної сили, який відрізняється тим, що в одному із зразків збуджують вільні резонансні коливання, а фактичну площу контакту визначають по числу коливань, що перевищують рівень α, по формулі:
де- частота проходження імпульсів;
- резонансна частота п'єзоелемента;
- еквівалентна індуктивність.
Текст
Спосіб виміру фаісгичної площі контаїсгу шляхом зближення двох контаїсгуючих зразків під дією статичної сили, який відрізняється тим, що в од ному із зразків збуджують ВІЛЬНІ резонансні коливання, а фактичну площу контакту визначають по числу коливань, що перевищують рівень а, по формулі Винахід належить до вимірювальної техніки, зокрема, до вимірювання фактичної площі контакту Відомий спосіб виміру фактичної площі контакту, що полягає в зближенні контактуючих зразків під впливом статичної сили і вимірюванні площі площадок контакту (див Демкин Н Б Контактирование шероховатых поверхностей М Наука, 1970, 227 с ) Недоліком цього способу є відома складність вимірювання площі площадок контакту Відомий спосіб вимірювання фактичної площі контакту, що полягає в зближенні контактуючих зразків під впливом статичної сили і вимірюванні площі площадок контакту, причому між зразками розміщують термопластичну плівку, нагрівають її до температури, що перевищує температуру скловання на 10-15°С, прикладають зусилля до контактуючих зразків і прохолоджують и до скловання і після витягу плівки здійснюють планіметрування отриманого відбитка (див А с СССР № 846994, кл G 01 В 5/26, 1979, бюл № 20) Недоліком цього способу є відома складність вимірювання площі площадок контакту Відомий спосіб виміру фактичної площі контакту, що полягає в зближенні контактуючих зразків під впливом статичної сили і вимірюванні площі площадок контакту, причому між зразками розміщують гнучку плівку, прикладають до зразків зусилля і здійснюють планіметрування відбитка на ПЛІВЦІ (див А с СССР № 6572340, кп G 01 В 5/26,1977, бюл №46) Вказаний спосіб найбільш близький по технічній сутності до того, що заявляється, і вибраний в якості прототипа Недоліком цього способу є відома складність вимірювання площі площадок контакту В основу винаходу поставлена задача удосконалення способу вимірювання фактичної площі контакту шляхом збудження в одному із зразків вільних резонансних коливань, затухання яких залежить від фактичної площі контакту, що дозволяє спростити процедуру вимірювання Поставлена задача вирішується тим, що заявлений спосіб включає зближення двох контактуючих зразків під дією статичної сили, згідно винаходу, в одному із зразків збуджують ВІЛЬНІ резонансні коливання, а про фактичну площу контакту судять по числу коливань, що перевищують заданий рівень а по формулі м е с 2L N = fCJ1fp In а, flefCJ1 - частота проходження імпульсів, f_ - резонансна частота п'єзоелемента, L - еквівалентна індуктивність N = хCJ1fp f х к, 2L , In а, R2 + R 1 де fcn - частота проходження імпульсів, fp - резонансна частота п'єзоелемента, L - еквівалентна індуктивність, Кожна з вказаних ВІДМІННИХ ознак є необхідною, а всі разом - достатніми для досягнення технічного результату О 00 ю 58790 Технічним результатом винаходу є спрощення процесу вимірювання фактичної площі контакту Винахід пояснюється кресленнями, де - на фіг 1 показана структурна схема реалізації даного способу, - на фіг 2 - осцилограма на виході п'єзотрансформатора у відсутності статичної сили (F=0), - на фіг 3 - осцилограма на виході п'єзотрансформатора при дії статичної сили (F=500H) Для реалізації способу (фіг 1) використовують імпульсний генератор 1, два зразки 2 і 3, лічильник 4 В якості зразка 2 використовують п'єзотрансформатор, контактуючий із зразком З Запропонований спосіб полягає в зближенні двох контактуючих зразків під дією сили, при цьому в одному із зразків збуджують ВІЛЬНІ резонансні коливання, а про фактичну площу контакту судять по числу коливань, що перевищують фіксований рівень а по формулі 2L -In а Суть способу полягає в наступному При збільшенні фактичної площі контакту збільшуються ультразвукові втрати коливного зразка (збільшується опір F 2 у формулі), що при? водить до більш швидкого затухання вільних коливань N, що перевищують деякий рівень а Це добре видно з осцилограм що приводяться (фіг 2, 3) Приклад реалізації способу У конкретному випадку були використані два зразки 0 38 мм , товщиною 15 мм Один з п'єзокераміки ЦТС-19, а другий - з латуні Л63 На зразки діяла статична сила в діапазоні від 0 до 500Н Результати вимірів приведені на фіг 2 (F=0) і фіг З (F=500H) Таким чином експериментальне встановлено, що саме така процедура реалізації пропонованого способу дозволяє спростити його, позбувшись рутинного вимірювання площі площадок контакту, а також одержувати результати вимірювань у вигляді електричних сигналів Фіг.З Комп'ютерна верстка М Клюкш Підписано до друку 05 09 2003 Тираж39 прим Міністерство освіти і науки України Державний департамент інтелектуальної власності, Львівська площа, 8, м Київ, МСП, 04655, Україна ТОВ "Міжнародний науковий комітет", вул Артема, 77, м Київ, 04050, Україна
ДивитисяДодаткова інформація
Назва патенту англійськоюMethod for measuring the actual area of contact
Автори англійськоюSharapov Valeriy Mykhaylovych, Kysil Tetiana Yuriivna
Назва патенту російськоюСпособ измерения действительной площади контактирования
Автори російськоюШарапов Валерий Михайлович, Кисель Татьяна Юрьевна
МПК / Мітки
МПК: G01N 3/32
Мітки: виміру, контакту, площі, фактичної, спосіб
Код посилання
<a href="https://ua.patents.su/2-58790-sposib-vimiru-faktichno-ploshhi-kontaktu.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентів України">Спосіб виміру фактичної площі контакту</a>
Попередній патент: Установка для одержання сухого органічного добрива
Наступний патент: Пристрій для вимірювання фактичної площі контакту
Випадковий патент: Похідні 5-арил-8,8-диметил-1,2,3,4,5,6,7,8,9,10-декагідропіримідо[4,5-в]хінолін-4,6-діону