Спосіб одержання фоточутлівих тонкоплівкових гетеропереходів
Номер патенту: 9402
Опубліковано: 30.09.1996
Автори: Атдаєв Байрамгилич Сапаргилиджович, Шейнкман Михайло Ківович, Рахлін Михайло Якович, Булах Борис Макарович, Гарягдиєв Гурбанберді
Формула / Реферат
1. Способ получения фоточувствительных тонкопленочных гетеропереходов n-CdS/p-CdTe, включающий нанесение на прозрачную подложку базового слоя CdS:In путем термической деструкции дибутилдитиокарбаматов кадмия и индия при температуре в диапазоне 290-300°С, отличающийся тем, что, с целью повышения качества фотоэлектрического преобразования гетеропереходов путем повышения степени чистоты слоев р-n-переходов и кристаллического совершенства слоев CdS, поверх базового слоя наносят слой высокоомного сульфида кадмия CdS путем термической деструкции дибутилдитиокарбамата кадмия при температуре 250-280°С, после чего проводят термообработку последнего в потоке парогазовой смеси, включающей инертный газ, водород, пары теллура, при температуре 450-600°С, а соотношение расхода газов инертный газ - водород поддерживают в интервале 2:1-10:1 при общем потоке 100-500 мл/мин.
2. Способ по п. 1, отличающийся тем, что парогазовую смесь формируют путем пропускания смеси инертного газа и водорода над расплавом теллура, расположенным в той температурной зоне, где находится термообрабатываемый слой сульфида кадмия CdS.
Текст
ДЛЯ СЛУЖЕБНОГО ПОЛЬЗОВАНИЯ ЖІ СОЮЗ СОВЕТСКИХ СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ РЕСПУБЛИК If * г - о 1 '*. (19) SU(11) 1356917 C3U 4 Н 01 Ь 31/18, 1 21/477 ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ 21) 4056904/31-25 22) 16.04.86 (71) Институт полупроводников АН УССР (72) Б.С. Атдаев, Б.М. Булах, Г. Тарягдыев, М.Я. Рахлин и М.К. Шейнкман (53) 6 2 1 . 3 8 3 ( 0 8 8 . 8 ) (56) Мацумото Н. и др. Солнечные элементы со структурой CdS/CdTe и 2=12,8%, полученные методом трафаретной печати. - "Солнечные элементы", 1984, v. П , Н , р. 363-273. Мацумото Н. и др. Фотовольгический эффект в гетеропереходах CdTe/CdS, полученных эпитаксией из газовой фазы. Яп. эн. Прикладной физики, 1976, v. 15, № 18, р. 1575• 1576. Авторское свидетельство СССР № 708867, кл. Н 01 L 31/18, 1977. (54) СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ ФОТОЧУВСТВИТЕЛЬНЫХ ТОНКОПЛЕНОЧНЫХ ГЕТЕРОПЕРЕХОДОВ (57) Изобретение относится к электронной технике, а именно к техноло гии производства полупроводниковых материалов, и может быть использовано при получении фоточувствительных гетеропереходов и солнечных элементов для целей опто- и фотоэлектроники. Целью изобретения является повышение качества фотоэлектрического преобразования гетероперехода CdS/ /CdTe. Способ заключается в получении "базового слоя CdS:In на прозрачной подложке путем термической деструкции дибутилдитиокарбаматов кадмия и индия при температуре 290-300°С, нанесении слоя высокоомного сульфида кадмия путем термической деструкции дибутилдитиокарбамата кадмия при температуре 250-280°С и последующей термообработке его в токе парогазовой смеси, содержащей теллур, при температуре 450-600 С. Парогазовая смесь включает инертный газ, водород и пары теллура при соотношении содержания инертного газа и водорода в интервале 2:1-10:1 при общем потоке 100-500 мл/мин. 1 з.п. ф-лы, 1 табл. У 44-87 if) 00 ел со 1 13569 17 2 зано с тем, что только в этом слуИзобретение относится к электрончае обеспечивается наилучшее согласоной технике, а именно к технологии вание с кристаллической решеткой производства полупроводниковых мате/З-CdTe (рассогласование не превышает .риалов, и может быть использовано 5 4,1%). Слои CdS, осажденные в указанпри получении фоточувствительных геном температурном интервале,однофазтеропереходов и солнечных элементов ны, принадлежат вюрцитной фазе, высодля целей опто- и фотоэлектроники. котекстурированы и удовлетворяют Целью изобретения является повышение качества фотоэлектрического пре- 10 сформулированным выше требованиям. При температурах ниже 250 С осаждаютобразования гетеропереходов CdS/CdTe ся поликристаллические слои, а при путем повышения степени чистоты слотемпературе выше 280 С осаждаемые ев р-п-переходов и кристаллического слои двухфазны. Наличие водорода в совершенства слоев CdS. парогазовой смеси при образовании В предлагаемом способе проводят 15 CdTe связано с тем, что водород свяосаждение базового слоя CdS:In, полузывает и уносит серу с поверхности чаемого на прозрачной подложке путем слоя CdS и облегчает теллуру возтермической деструкции дибутилдитиоможность замещать серу, вытесняя карбаматов кадмия и индия при темпеее на поверхность. Инертный газ позратуре 29О-ЗОО°С, затем поверх базо- - 0 2 воляет легко регулировать концентвого наносят слон высокоомного сульрацию водорода в парогазовой смеси и фида кадмия путем термической дестскорость потока. рукции дибутилдитиокарбамата кадмия при температуре 250-280 С, после чеТемпературный диапазон термообраго проводят термообработку последнего 2 5 ботки снизу ограничен температурой в потоке парогазовой смеси инертный разрыхления (по Гурвичу) кристаллигаз - водород-пары теллура при темпеческой решетки CdS (Траэр =1/3 T nft = ратуре 450-600 С, При этом парогазо450 С ) , а сверху - температурой окисвую смесь формируют путем пропускаления CdTe (появление фазы ТеО при О 2. ния смеси газов инертный газ - водо- ЗО Т?600 С зафиксировано электронографирод над расплавом теллура, располочески, наличие кислорода в системе женным в той температурной зоне, где связано с недостаточной степенью находится термообрабатываемый слой, очистки инертного газа). а соотношение расхода газов инертРасширение спектрального диапазо-' ный Газ-^водород поддерживается в 35 на фоточувствительности гетероперехопарогазовой смеси в интервале 2:1да связано с тем, что гетерострукту10:1 при общем потоке на входе в ра содержит чистые слои CdS и CdTe, зону термообработки 100-500 мл/мин. ширины запрещенных зон которых опреПовышение качества перехода, полученного указанным путем, происходит 40 деляют ширину спектрального диапазона чувствительности 0,41-0,91 мкм. вследствие того, что термообработка Увеличение коэффициента выпрямлев токе парогазовой смеси приводит ния гетероперехода, получаемого предк образованию чистого CdTe за счет лагаемым способом, определяется тем, твердофазного замещения серы на теллур в указанном температурном интер- 45 что гетеропереход формируется внутри материала в процессе термообработки, вале термообработки. Слой высокоомноа не на поверхности. Это уменьшает го CdS, получаемый указанным путем загрязнение р-п-перехода неконтро(термодеструкция паров дибутилдитиолируемым примесями и уменьшает рекомкарбаматов кадмия при температуре 250-280 С ) , удовлетворяет всем требо- 50 бинационный канал на границе р-п-перехода, что дает вышеуказанный эфваниям для проведения процесса тверфект. дофазного замещения: хорошая адгезия В связи с тем, что температура с базовым слоем; состав, близкий плавления теллура совпадает с темк стехиометрии; беспористость; определенная степень совершенства крис55 пературой разрыхления CdS, то наиболее технологично источник паров телталлической структуры однофазность лура расположить в зоне, где провои высокая степень текст урированности дится термообработка. с осью с /002/, перпендикулярной Указанное соотношение расхода подложке. Последнее требование свяинертного газа и водорода связано 13569J7 . 4 тов кадмия [(CuH 9 ) z NCS *]2Cd и индия однозначно со скоростью потока г а з о Г(С4 Н„ ) NCS Л „In при температуре в „ вой смеси: при малой скорости потока зоне осаждения Т-295+5 С толщиной (~100 мл/мин) выбирается большая 3,2-3,4 мкм и удельным сопротивлеконцентрация водорода в парогазовой нием р *2-10,0 Ом. см. Затем при темсмеси (соотношение инертный г а з пературе 250°С в зоне осаждения наводород 2 : 1 ) . Таким образом, колиносят възсокоомный слой CdS (при исчество водорода в зоне термообработпользовании термодеструкции дибутилки поддерживается практически п о ^р дитиокарбамата кадмия) толщиной 0,8стоянным. При меньшей концентрации 1,0 мкм и удельным сопротивлением водорода резко падает скорость прор=(2-8)'1О Ом-см. Далее проводят цесса твердофазного замещения серы термообработку при температуре Т = на теллур з а счет блокировки серой 525 С в смеси паров теллура с инертповерхности, а при большей концентра• 5 ным разом (аргон) и водородом (соот( ции образуется CdTe нестехиометриношение последних 4:1 на входе в зоческого с о с т а в а . ну термообработки) и общим потоком П р и м е р 1. На стеклянную подв 400 мл/мин. Поверх слоя CdTe наноложку, покрытую проводящим прозрачсят электроды, например золотые. Осным слоем I r i j O ^ S n , наносят базовый 2 0 новные параметры гетеропереходов, слой п- типа CdS:In путем термодеполученные в режимах данного способа струкции ларов днбутилднтиокарбамаи прототипа, приведены в таблице. Пример, Ток короткого замыкания , I . ,мА/см Напряжение холостого хода, Коэффициент выпрямления к,-ю4 и» , в о Диапазон спектральной чувствительности, мкм 1 14 0,39 5,2 0,47-0,91 2 17 0,52 6,1 То же 3 13 0,31 4,8 _"_ 4 12 0,37 4,6 _"— 5 12 0,42 5,4 _и_ 6 15 0,46 5,1 _н_ , 7 13 0,43 4,9 8 0,21 0,7 Прототип Ф о р м у л а и з о б р е т е Н И Я 1. Способ получения фоточувствительных тонкопленочных гетеропереходов n-CdS/p-CdTe, включающий нанесение на прозрачную подложку базового слоя CdS:In путем термической д е струкции дибутилдитиокарбаматов кадмия и индия при температуре в диапазоне 290-300°С, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью повышения ка 0,54-0,83 Чег,тва фоте)электрическо 50 вания гетеропереходов путем повышения степени чистоты слоев р-п-переходов и кристаллического совершенства слоев CdS, поверх базового слоя наносят слой высокоомного сульфида 55 кадмия CdS путем термической деструкции дибутилдитиокарбамата кадмия при температуре 250-280 С, после чего проводят термообработку последнего в потоке парогазовой смеси, вклю . 5 1356917 чающей инертный газ, водород, пары теллура, при температуре 450-600 С, а соотношение расхода газов инертный газ - водород поддерживают в интервале 2:1-10:1 при общем потоке 100-500 мл/мин. . 2. Способ по п. 1, о т л и ч а ю Редактор Т. Лошкарева Заказ 1515/ДСП в щ и й с я тем, что парогазовую смесь формируют путем пропускания смеси инертного газа и водорода над расплавом теллура, расположенным в той температурной зоне, где находится термообрабатываемый слой сульфида кадмия CdS. Составитель Т. Скоморохова Техред М.Дидык Корректор Л. Патай Тираж 448 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5 Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4.
ДивитисяДодаткова інформація
Назва патенту англійськоюMethod to obtain photo-sensitive thin-film heterojunctions
Автори англійськоюAtdaiev Bairamhylych Saparhylydzhovych, Bulakh Borys Makarovych, Rakhlin Mykhailo Yakovych, Sheinkman Mykhailo Kivovych
Назва патенту російськоюСпособ получения фоточувствительных тонкопленочных гетеропереходов
Автори російськоюАтдаев Байрамгилич Сапаргилиджович, Булах Борис Макарович, Рахлин Михаил Якович, Шейнкман Михаил Кивович
МПК / Мітки
МПК: H01L 21/477, H01L 31/18
Мітки: тонкоплівкових, спосіб, гетеропереходів, одержання, фоточутлівих
Код посилання
<a href="https://ua.patents.su/4-9402-sposib-oderzhannya-fotochutlivikh-tonkoplivkovikh-geteroperekhodiv.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентів України">Спосіб одержання фоточутлівих тонкоплівкових гетеропереходів</a>
Попередній патент: Шихта для виплавки малофосфористого шлаку
Наступний патент: Пристрій для лапаростомії
Випадковий патент: Спосіб захисту металевої поверхні теплоенергетичного обладнання у водооборотних системах