Патенти з міткою «зондовий»

Зондовий пристрій для вимірювання електрофізичних характеристик напівпровідникових структур при різних температурах

Завантаження...

Номер патенту: 84570

Опубліковано: 25.10.2013

Автори: Слободзян Дмитро Петрович, Грипа Андрій Сергійович, Лис Роман Мирославович, Павлик Богдан Васильович, Кушлик Маркіян Олегович, Дідик Роман Іванович, Шикоряк Йосип Андрійович

МПК: G01R 1/00

Мітки: різних, зондовий, електрофізичних, пристрій, температурах, структур, вимірювання, напівпровідникових, характеристик

Формула / Реферат:

Зондовий пристрій для вимірювання електрофізичних характеристик напівпровідникових структур при різних температурах, що містить підпружинені зонди для підведення до дослідного зразка випробувальних сигналів, вставлені у направляючі отвори фторопластової пластини, виконані по шаблону на місцях, відповідних до нанесених контактів на дослідному зразку, фторопластова пластина, встановлена у направляючі штифти Г-подібної мідної пластини і...

Зондовий пристрій для вимірювання електрофізичних характеристик напівпровідникових структур

Завантаження...

Номер патенту: 78467

Опубліковано: 25.03.2013

Автори: Шикоряк Йосип Андрійович, Лис Роман Мирославович, Грипа Андрій Сергійович, Павлик Богдан Васильович, Кушлик Маркіян Олегович, Слободзян Дмитро Петрович, Дідик Роман Іванович

МПК: H01L 21/02, G01R 1/00

Мітки: пристрій, вимірювання, структур, зондовий, електрофізичних, характеристик, напівпровідникових

Формула / Реферат:

Зондовий пристрій для вимірювання електрофізичних характеристик напівпровідникових структур, що містить підпружинені зонди для підведення випробувальних сигналів, вставлені у направляючі отвори фторопластової пластини, виконані по шаблону на місцях, відповідних до нанесених контактів на дослідному зразку, причому контактні торці зондів виготовлені у формі півкулі, а протилежні - з виїмкою для встановлення притискної пружини, один кінець якої...

Зондовий пристрій для вимірювання електрофізичних характеристик напівпровідникових структур

Завантаження...

Номер патенту: 68570

Опубліковано: 26.03.2012

Автори: Грипа Андрій Сергійович, Слободзян Дмитро Петрович, Лис Роман Мирославович, Павлик Богдан Васильович, Шикоряк Йосип Андрійович, Цвєткова Ольга Валентинівна, Дідик Роман Іванович

МПК: G01R 1/00, H01L 21/02

Мітки: характеристик, зондовий, пристрій, електрофізичних, структур, вимірювання, напівпровідникових

Формула / Реферат:

Зондовий пристрій для вимірювання електрофізичних характеристик напівпровідникових структур, що містить підпружинені зонди для підведення випробувальних сигналів, який відрізняється тим, що введено додаткові зонди, вставлені у напрямні отвори фторопластової пластини, виконані по шаблону на місцях, відповідних до нанесених контактів на дослідному зразку, причому контактні торці зондів виготовлені у формі півкулі, а протилежні - з виїмкою для...

Свердловинний зондовий перфоратор

Завантаження...

Номер патенту: 10706

Опубліковано: 25.12.1996

Автори: Степанчиков Олександр Омелянович, Лобода Роман Богданович, Копач Ігор Васильович

МПК: E21B 43/114

Мітки: перфоратор, свердловинний, зондовий

Формула / Реферат:

Скважинный зондовый перфоратор, включаю­щий корпус перфоратора, герметично соединенный с нагнетательной колонной насосно-компрессорных труб, гибкий трубчатый зонд с сопловой насадкой на конце, расположенный внутри корпуса патрубок-отклонитель зонда, гидропривод выдвижения зонда и резец с вертикальной режущей кромкой, отличаю­щийся тем, что перфоратор снабжен втулкой-центратором, установленной с возможностью осевого перемещения в вертикальном...