Пристрій для контролю процесу травлення покриттів
Номер патенту: 5772
Опубліковано: 29.12.1994
Автори: Крячко Юрій Петрович, Івановський Геннадій Хомич, Федоров Микола Миколаєвич, Будянський Олександр Михайлович, Фареник Володимир Іванович, Єгоренко Володимир Дмитрович, Демченко Петро Васильович
Формула / Реферат
1. Устройство для контроля процесса травле-ния покрытий, содержащее систему измерительных электродов и подложкодержатель, размещенные в зоне разряда, откачной патрубок и блок контроля, электрически соединенный с системой измерительных электродов, отличающееся тем, что, с целью повышения точности контроля процесса травления покрытий за счет исключения фонового сигнала, система измерительных электродов выполнена в виде трех зондов, размещенных последовательно один за другим между подложкодержателем и откачным патрубком, а их рабочие концы расположены в плоскости, параллельной рабочей поверхности подложкодержателя, причем отношение суммы площадей рабочих концов зондов к площади подложкодержателя меньше единицы.
2. Устройство по п. 1, отличающееся тем, что блок контроля снабжен потенциометром, вольтметром и источником постоянного напряжения, центральный электрод электрически соединен через источник постоянного напряжения с движком потенциометра, а крайние электроды электрически соединены с входами потенциометра и вольтметра.
Текст
Изобретение касается контроля процессов обработки изделий. Цель изобретения — повышение точности контроля процессов травления покрытий. Система изме 46—87 фиг! рительных электродов (Э) 4—6 выполнена в виде трех зондов, расположенных между подложкодержателем (П) 3 и откачиым патрубком 10 камеры 1 Рабочие концы зондов расположены в плоскости, параллельной поверхности П 3. Отношение суммы площадей рабочих концов зонды к площади П 3 меньше единицы. В процессе травления вблизи П 3 возникает градиент плотности заряженных частиц, что приводит к вочникновению перепада проводимости, т. е. разницы в проводимости двух соседних участков плазмы, находящихся между Э 4—6. Если расстояние между Э 4—6 меньше расстояния, на ко тором заметно меняются параметры плазмы, то проводимость участьов плазмы примерно одинаковы. При травлении возникает разбаланс моста с образованием сигнала в диагонали 4.6. 1 *.. п. ф-лы, 2 ил 1 1360245 Изобретение касается контроля процессов обработки изделий электрическими средствами и может быть использовано для контроля процессов травления покрытий образцов в вакуумно-плазменной технологии. Целью изобретения является повышение точности контроля процессов травления покрытий за счет исключения фонового сигнала. На фиг. І изображена принципиальная схема усіройства для контроля процессов травления покрытий; на фиг 2 — график процесса травления. Устройство состоит из вакуумной камеры 1, объема 2 горения плазмы, подложкодержателя 3, измерительных электродов 4, 5 и б соответственно Si, S2, S3, измерительного прибора 7 — милливольтметра (микроамперметра) постоянного тока, источника 8 постоянного напряжения, переменного сопротивления 9 (потенциометр), откачного патрубка І0 камеры, патрубка 11 напуска рабочего газа. Устройство работает следующим образом. В процессе травления вблизи подложки возникает градиент плотности заряженных частиц, связанный с образованием и ионизацией летучих продуктов реакции и их уходом на периферию камеры 1. Это приводит к возникновению перепада проводимости, т. е разницы в проводимостях двух соседних участков плазмы, находящихся между тремя измерительными электродами 4, ь, Ь, расположенными последовательно в направлении ухода продуктов реакции вблизи подложки. Если размеры этих участков и расстояние между ними меньше расстояния, на котором заметно меняются параметры плазмы, т. е. много меньше размеров однородной области плазмы в этом направлении, то проводимости (и сопротивления) участков одинаковы в отсутствии травления и одинаково меняются при изменении параметров технологического режима. Эти участки плазмы включены в противоположные плечи электрического моста, сбалансированного с помощью переменного сопротивления 9 в отсутствие продуктов травления так, чтобы разность потенциалов в измерительной диагонали А-—6 равнялось нулю. Так как при изменении параметров всего объема 2 плазмы (при изменении условий технологического режима) сопротивления участков 4 — 5 и 5—6 плазмы меняются одинаково, то это не приводит к разбалансу моста и появлению сигнала в диагонали. В процессе травления, наоборот, возникает разница в проводимостях этих участков плазмы, т. е. разница а сопротивлениях плеч моста, приводящая к его разбалансу и возникновению сигнала в диагонали 4—6. Этот сигнал контролируется при помощи измерительного прибора 7, и по харак 10 15 20 25 30 35 40 45 .. 50 терному изменению во времени этого сигнала фиксируется момент окончания травления слоя и многослойного покрытия (см. фиг. 2). При зажигании разряда происходит пробой рабочего газа, что соответствует резкому изменению потенциала (тока) в измерительном устройстве, и происходит его стабилизация за время to. В момент ti начинается процесс травления, что соответствует резкому изменению потенциала (тока) в устройстве контроля процесса травления. В течение некоторого времени процесс травления идет равномерно, что соответствует постоянству напряжения (тока) в устройстве контроля травления. К окончанию травления первого слоя ток резко изменяется. В момент І2 начинается трави ление следующего слоя и заканчивается в момент U. Начинается травление третьего слои. При равномерном травлении слоя потенциал (ток) в устройстве контроля остается на постоянном уровне t>-t4Уровень сигнала „й скорости его изменения во времени, измеряемые при контроле процессов травления, зависят от материала покрытий и условий разряда, при которых происходит травление. Пример. В вакуумную камеру 1 установки типа ПХО на электрод-подложкодержатель диаметром 200 мм поместили образец диаметром 70 мм с покрытием (подложка — Si, покрытие — поли-Si), со стороны откачного патрубка 10 на расстоянии 10 мм над подложкой поместили измерительные электроды 4, 5 и 6, сделанные в виде цилиндров диаметром 1 мм и длиной 3 мм. Расстояние между электродами 4, 5 и 6 3 мм. Откачали вакуумную камеру 1 до давления 10 мм рт. ст, произвели напуск рабочего газа ПФК№100 до раббчего давления 8- 10~4 мм рт. ст., включили внешнее магнитное поле 300 Э, зажгли разряд в камере 1 путем подачи напряжения от высокочастотного генератора с частотой 13,56 МГц. Вводимая ВЧ-мощность в разряд равнялась 500 Вт. Разность потенциалов в измерительной диагонали моста измерялась прибором 7 М95 с наружным шунтом Р4. Переменное сопротивление 9 1 МОм. Постоянное напряжение, подаваемое в схему от источника 8 постоянного напряжения (универсальный источник питания «Электроника») 30 В. Схема измерения предварительно была сбалансирована. Величина разности потенциалов (тока) в течение Діі = 2,5 мин увеличивалась до 5 мкА и в течение ДІ2 = 1 мин оставалась постоянной, а затем А1з=1,5 мин величина тока уменьшалась до 0,5 мкА и в течение АІ4 = 30 с оставалась постоянной. Процесс травления прекратили. 55 Контроль обработанной поверхности проведен с помощью микроскопа, который показал полное стравливание покрытия поли 1360245 кремния со всей поверхности образца, а подложка не травилась Устройство позволяет повысить точность контроля процессов травления покрытий образцов, приводит к сокращению процента брака и увеличению выхода годной продукции, увеличению срока службы технологи ческого оборудования, экономии рабочего газа и вакуумных масел, используемых в насоса процесса травления за счет исключения фонового сигнала,система измерительных электродов выполнена в виде трех зондов, разметенных последовательно один за дру5 гим между подложкодержателем и откачным патрубком, а их рабочие концы расположены в плоскости, параллельной рабочей поверхности подложкодержателя, причем отношение суммы площадей рабочих концов зондов к площади подложкодержателя мень1П ше единицы Формула изобретения 2 Устройство по п I, отличающееся тем, что блок контроля снабжен потен 1 Устройство для контроля процесса циометром, вольтметром и источником пос травления покрытий, содержащее систему измерительных электродов и подложкодер- 15 тоянного напряжения, центральный элек трод электрически соединен через источжатель, размещенные в зоне разряда, отник постоянного напряжения с движком качной патрубок и блок контроля, элекпотенциометра, а крайние электроды электрически соединенный с системой измеритрически соединены с входами потенциотельных электродов, отличающееся тем, что, метра и вольтметра с целью повышения точности контроля фи? 2 Составитель И Фишель Редактор! Клюкина Техред И Верес Корректоре Черни Заказ 15ЬЗ/ДСП Тираж 703 Подписное ВНИИПИ Пл\дарственного комитета СССР но делам изобретений и открытии I 11035, Москва, Ж—35 Раушская и6 . д 4/5 Производственно полиграфическое прелпрнятие г Ужгород уп Проектная, 4 «M,
ДивитисяДодаткова інформація
Назва патенту англійськоюDevice for control of coating etching process
Автори англійськоюBudianskyi Oleksandr Mykhailovych, Demchenko Petro Vasyliovych, Yehorenko Volodymyr Dmytrovych, Ivanovskyi Hennadii Khomych, Kriachko Yurii Petrovych, Farenyk Volodymyr Ivanovych, Fedorov Mykola Mykolaiovych
Назва патенту російськоюУстройство для контроля процесса травления покрытий
Автори російськоюБудянский Александр Михайлович, Демченко Петр Васильевич, Егоренко Владимир Дмитриевич, Ивановский Геннадий Фомич, Крячко Юрий Петрович, Фареник Владимир Иванович, Федоров Николай Николаевич
МПК / Мітки
МПК: C23C 14/54
Мітки: пристрій, контролю, процесу, покриттів, травлення
Код посилання
<a href="https://ua.patents.su/4-5772-pristrijj-dlya-kontrolyu-procesu-travlennya-pokrittiv.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентів України">Пристрій для контролю процесу травлення покриттів</a>
Попередній патент: Спосіб обробки поверхонь діелектричних мішеней в вакуумі
Наступний патент: Спосіб плазмохімічного зняття плівок фоторезиста
Випадковий патент: Пристрій для заморожування біоматеріалів