Молчанов Костянтин Вікторович

Номер патенту: 11101

Опубліковано: 25.12.1996

Автори: Бідник Дмитро Ілліч, Ілюк Ігор Євгенович, Пенцак Іван Борисович, Молчанов Костянтин Вікторович, Чекмезов Олександр Миколайович

МПК: G01R 31/28

Мітки: схем, вивідних, інтегральних, дефектів, виявлення, спосіб, колах

Формула / Реферат:

(57) Способ обнаружения дефектов в выводных цепях интегральных схем, включающий разделение выводов на группы, подачу на объект контроля испытательного напряжения, регистрацию величины тока на выводах объекта контроля, сравнение полученного результата со значением тока утечки и отбраковку, отличающийся тем, что величину испытательного напряжения выбирают из соотношения0.1 UH =>Uи=>(1+0,02K)Ukгде Uн - номинальное напряжение,...

Номер патенту: 12279

Опубліковано: 25.12.1996

Автори: Михальчук Леонід Миколайович, Ілюк Ігор Євгенович, Молчанов Костянтин Вікторович, Саванєвський Володимир Григорович, Пенцак Іван Борисович

МПК: H03K 23/00, H03K 17/22

Мітки: напруги, лічильник-реєстратор, пропадання

Формула / Реферат:

Счетчик-регистратор пропадания напряже­ния, содержащий диод, транзистор, резистор, счет­ное устройство и конденсатор, первый вывод которого подключен к коллектору транзистора и через диод в прямом направлении к первой шине питания, а второй вывод конденсатора подключен к второй шине питания, отличающийся тем, что, с целью повышения надежности за счет упрощения устройства, в него введен операционный усилитель, прямий вход и первый вывод...

Номер патенту: 9783

Опубліковано: 30.09.1996

Автори: Чекмезов Олександр Миколайович, Остапчук Анатолій Іванович, Пенцак Іван Борисович, Ілюк Ігор Євгенович, Молчанов Костянтин Вікторович

МПК: G01R 31/01, G01R 31/28, G01R 31/26 ...

Мітки: кмон, відбраковки, спосіб, ненадійних, схем, інтегральних

Формула / Реферат:

(57) 1. Способ отбраковки ненадежных КМОП интегральных схем, включающий пропускание стабильного тока между одним из питающих выводов, объединенным с входными выводами интегральной схемы, и другим питающим выводом интегральной схемы, измерение напряжения между питающими выводами интегральной схемы, отбраковку интегральной схемы по результатам измерений, отличающийся тем, что измеряют напряжение между питающими выводами интегральной схемы при...

Номер патенту: 9158

Опубліковано: 30.09.1996

Автори: Желєзняков Борис Григорович, Молчанов Костянтин Вікторович, Букевич Юрій Дмитрович

МПК: H01L 21/60

Мітки: схем, інтегральних, спосіб, монтажу

Формула / Реферат:

1. Способ монтажа интегральных схем, включающий формирование контактных .площа­док кристалла и основания, нанесение на контакт­ные площадки соединительного токопроводящего материала, взаимное их ориентирование и присое­динение, отличающийся тем, что, с целью упро­щения процесса монтажа, контактные площадки формируют из ферромагнитного металла, соеди­нительным токопроводящим материалом является полимерная пленка с ферромагнитным наполните­лем,...

Номер патенту: 7149

Опубліковано: 30.06.1995

Автори: Молчанов Костянтин Вікторович, Чекмезов Олександр Миколайович, Воронцов Володимир Анатолійович, Ілюк Ігор Євгенович, Остапчук Анатолій Іванович, Пенцак Іван Борисович

МПК: G01R 31/26

Мітки: спосіб, відбраковки, кмон, ненадійних

Текст:

...замер пробивного напряжения (фиг. 1, где для ИС N: 1, 2 и 3 на кривых ВАХ 1, 2, 3 соответствующими пробивными напряжениями являют- 45 ся Ui\ U2' и из'). Полученные результаты сравнивают с имеющимся (для каждого типа приборов) эталонным пробивным напряжением UN. ИС со значениями пробивного наполнения меньшим U N отбраковываются 50 (например, кривая 2 на фиг. 1, где U2' < UN). На втором этапе замеряют пробивные напряжения при...

Номер патенту: 6596

Опубліковано: 29.12.1994

Автори: Остапчук Анатолій Іванович, Пенцак Іван Борисович, Молчанов Костянтин Вікторович, Чеха Володимир Миколайович, Ілюк Ігор Євгенович

МПК: G01R 31/28

Мітки: випробовування, інтегральних, вивідних, схем, кіл, спосіб

Формула / Реферат:

(57) 1. Способ испытания выводных цепей интегральных схем, в соответствии с которым разделяют выводы объекта контроля на группы, подают на него испытательные напряжения, регистрируют значение проводимости на клеммах для подключения объекта контроля, сравнивают полученные результаты с эталонными значениями, производят отбраковку, отличающийся тем, что отбраковку интегральных схем производят по значению проводимости их выводных цепей, которое...

Номер патенту: 6595

Опубліковано: 29.12.1994

Автори: Бідник Дмитро Ілліч, Ілюк Ігор Євгенович, Молчанов Костянтин Вікторович, Пенцак Іван Борисович

МПК: G01R 31/28

Мітки: схем, спосіб, інтегральних, відбраковки

Формула / Реферат:

(57) 1. Способ отбраковки интегральных схем, включающий подачу на объект контроля напряжения питания и испытательных сигналов, замер первого и второго значений сопротивления, определение информативного параметра и отбраковку, отличающийся тем, что в качестве информативного параметра используют квазиравновесное сопротивление объекта контроля в активном режиме, а его значение при номинальном испытательном режиме принимают за эталон, при этом...

Номер патенту: 5309

Опубліковано: 28.12.1994

Автори: Остапчук Анатолій Іванович, Пенцак Іван Борисович, Молчанов Костянтин Вікторович, Ілюк Ігор Євгенович

МПК: G01R 31/28

Мітки: електротермотренування, інтегральних, спосіб, мікросхем

Формула / Реферат:

Способ электротермотренировки интегральных микросхем, в соответствии с которым подают тестовые воздействия и напряжение питания на клеммы для подключения объекта контроля, к выходу же объекта контроля подключают нагрузку, отличающийся тем, что электротермотренировку проводят при температуре окружающей среды в режиме, обеспечивающем пиковую мощность рассеивания объекта контроля, при этом кратковременно подают одновременно на входные и питающие...

Номер патенту: 4059

Опубліковано: 27.12.1994

Автори: Пенцак Іван Борисович, Чекмезов Олександр Миколайович, Остапчук Анатолій Іванович, Ілюк Ігор Євгенович, Молчанов Костянтин Вікторович

МПК: H01L 21/66

Мітки: схем, тестова, структура, інтегральних, технологічних, контролю, параметрів

Формула / Реферат:

Тестовая структура для контроля технологических параметров интегральных схем, содержащая полупроводниковую подложку со сформированными на ней квадратным и полосчатым резисторами, а также соединенные с ними проводящие дорожки, имеющие контактные площадки на концах, отличающаяся тем, что она дополнительно содержит второй квадратный резистор, а на поверхность структуры нанесен маскирующий слой с окнами, расположенными над полосчатым и одним из...

Номер патенту: 3333

Опубліковано: 27.12.1994

Автори: Ілюк Ігор Євгенович, Навроцький Михайло Васильович, Молчанов Костянтин Вікторович, Алєксандров Євген Веніамінович

МПК: H01L 21/265

Мітки: травлення, іонного, спосіб, пластин

Формула / Реферат:

1. Способ ионного травления пластин, включающий размещение пластин на электроде и обработку пластин путем чередования стадий травления и откачки, отличающийся тем, что во время вакуумной откачки пластины поворачивают вокруг общей оси, параллельной осям пластин, на угол , который выбирают из условия

Номер патенту: 2905

Опубліковано: 26.12.1994

Автори: Воронцов Володимир Анатолійович, Бідник Дмитро Ілліч, Михальчук Леонід Миколайович, Чекмезов Олександр Миколайович, Пенцак Іван Борисович, Іллюк Ігор Євгенович, Молчанов Костянтин Вікторович

МПК: G01N 27/20, G01R 17/00

Мітки: інтегральних, спосіб, відбраковки, схем, кмон

Формула / Реферат:

Способ отбраковки КМОП интегральных схем, включающий подачу на объект контроля испытательных воздействий между входными и питающими выводами, замер информативных параметров, сравнение их с эталонными значениями, отбраковку, отличающийся тем, что в качестве информативных параметров используют значения напряжения при номинальном и максимально допустимом токах, а в качестве эталона - нормируемое напряжение при номинальном токе, при этом сначала...

Номер патенту: 2640

Опубліковано: 26.12.1994

Автори: Куляк Михайло Васильович, Молчанов Костянтин Вікторович, Хомін Ігор Богданович

МПК: H01L 21/60

Мітки: зварювальної, переміщення, головки, пристрій

Формула / Реферат:

1. Устройство для перемещения сварочной головки, содержащее блок управления, привод, кулачковый механизм перемещения в плоскости, параллельной оси сварочной головки, размещенный с возможностью взаимодействия со сварочной головкой, отличающееся тем, что кулачковый механизм перемещения снабжен электромеханическим толкателем, соединенным с блоком управления и установленным на одном из коромысел.2. Устройство по п.1, отличающееся тем, что...

Номер патенту: 1774

Опубліковано: 25.10.1994

Автори: Александров Євген Веніамінович, Ілюк Ігор Євгенович, Бабій Ігор Євгенович, Молчанов Костянтин Вікторович, Сьома Богдан Дмитрович

МПК: H01L 21/306

Мітки: пластин, поверхневих, шарів, спосіб, напівпровідникових, обробки

Формула / Реферат:

Способ обработки поверхностных слоев полупроводниковых пластин, включающий установку рабочих полупроводниковых пластин на одинаковом расстоянии одна от другой в кассету, установку перед первой и после последней рабочими пластинами балластных пластин на том же расстоянии и последующую обработку, отличающийся тем. что в качестве балластных используют пластины, на поверхность которых нанесен обрабатываемый слой в едином цикле с рабочими...