Патенти з міткою «досконалостів»
Спосіб контролю структурної досконалостів монокристалів
Номер патенту: 17146
Опубліковано: 18.03.1997
Автори: Кютт Регінальд Миколайович, Гинько Ігор Володимирович, Сhікаwа J., Кисловський Євген Миколайович, Грищенко Тарас Аркадійович, Когут Михайло Тихонович, Оліховський Степан Йосипович, Немошкаленко Володимир Володимирович, Молодкін Вадим Борисович, Ковальчук Михайло Валентинович, Бар'яхтар Віктор Григорович, Коhrа К., Низкова Ганна Іванівна, Шпак Анатолій Петрович
МПК: G01N 23/22, G01B 15/00
Мітки: структурної, монокристалів, контролю, спосіб, досконалостів
Формула / Реферат:
Способ контроля структурного совершенства монокристаллов, включающий облучение исследуемого образца известной толщины пучком рентгеновского излучения с длиной волны выбранной из условия осуществление в нем лауэ-дифракции, характеризуемой вектором дифракции при наклоне образца в угловом диапазоне вокруг вектора с сохранением дифракционных условий, измерение толщинной зависимости полной интегральной отражательной способности (ПИОС) где...