Кютт Регінальд Миколайович

Номер патенту: 17146

Опубліковано: 18.03.1997

Автори: Немошкаленко Володимир Володимирович, Кисловський Євген Миколайович, Шпак Анатолій Петрович, Когут Михайло Тихонович, Оліховський Степан Йосипович, Ковальчук Михайло Валентинович, Кютт Регінальд Миколайович, Коhrа К., Грищенко Тарас Аркадійович, Низкова Ганна Іванівна, Бар'яхтар Віктор Григорович, Сhікаwа J., Гинько Ігор Володимирович, Молодкін Вадим Борисович

МПК: G01B 15/00, G01N 23/22

Мітки: монокристалів, спосіб, досконалостів, структурної, контролю

Формула / Реферат:

Способ контроля структурного совершенства монокристаллов, включающий облучение исследуемого образца известной толщины  пучком рентгеновского излучения с длиной волны  выбранной из условия  осуществление в нем лауэ-дифракции, характеризуемой вектором дифракции при наклоне образца в угловом диапазоне  вокруг вектора  с сохранением дифракционных условий, измерение толщинной зависимости полной интегральной отражательной способности (ПИОС)  где...