Сhікаwа J.
Спосіб контролю структурної досконалостів монокристалів
Номер патенту: 17146
Опубліковано: 18.03.1997
Автори: Низкова Ганна Іванівна, Кютт Регінальд Миколайович, Грищенко Тарас Аркадійович, Бар'яхтар Віктор Григорович, Молодкін Вадим Борисович, Оліховський Степан Йосипович, Кисловський Євген Миколайович, Сhікаwа J., Немошкаленко Володимир Володимирович, Коhrа К., Ковальчук Михайло Валентинович, Гинько Ігор Володимирович, Когут Михайло Тихонович, Шпак Анатолій Петрович
МПК: G01N 23/22, G01B 15/00
Мітки: спосіб, контролю, монокристалів, структурної, досконалостів
Формула / Реферат:
Способ контроля структурного совершенства монокристаллов, включающий облучение исследуемого образца известной толщины пучком рентгеновского излучения с длиной волны выбранной из условия осуществление в нем лауэ-дифракции, характеризуемой вектором дифракции при наклоне образца в угловом диапазоне вокруг вектора с сохранением дифракционных условий, измерение толщинной зависимости полной интегральной отражательной способности (ПИОС) где...