Патенти з міткою «структурної»

Номер патенту: 3699

Опубліковано: 27.12.1994

Автори: Гурєєв Анатолій Миколайович, Сторижко Володимир Юхимович, Низкова Ганна Іванівна, Кисловський Євген Миколайович, Молодкін Вадим Борисович, Осиновський Максим Євгенович, Когут Михайло Тихонович, Курбаков Олександр Іванович, Кривицький Владислав Петрович, Литвинов Юрій Михайлович, Гурєєв Микола Анатолійович, Оліховський Степан Йосипович, Ковальчук Михайло Валентинович, Немошкаленко Володимир Володимирович, Полінур Олександр Вольфович

МПК: G01N 23/20

Мітки: структурної, розсіюючий, спосіб, досконалості, динамічної, контролю, монокристалів

Формула / Реферат:

Способ контроля структурного совершенства динамических рассеивающих монокристаллов, за­ключающийся в том, что исследуемый образец толщиной t облучают полихроматическим пучком рентгеновского излучения, осуществляют лауэ-дифракцию излучения длины волны t, выбранной из условия, налагаемого на производстве m (l)1, где m - коэффициент фотоэлектрического погло­щения на определенной системе плоскостей, изме­ряют интегральные интенсивности JRH (l)...