Кривицький Владислав Петрович
Спосіб визначення структурної досконалості динамічно розсіюючих монокристалів
Номер патенту: 19220
Опубліковано: 25.12.1997
Автори: Осиновський Максим Євгенович, Кисловський Євген Миколайович, Кривицький Владислав Петрович, Молодкін Вадим Борисович, Ковальчук Михайло Валентинович, Бар'яхтар Віктор Григорович, Литвинов Юрій Михайлович, Бідник Дмитро Ілліч, Оліховський Степан Йосифович, Гуреєв Анатолій Миколайович, Поленур Олександр Вольфович, Шпак Анатолій Петрович, Остапчук Анатолій Іванович, Кшевецький Станіслав Антонович, Низкова Ганна Іванівна, Немошкаленко Володимир Володимирович, Гуреєв Микола Анатолійович, Когут Михайло Тихонович
МПК: G01N 23/20
Мітки: динамічної, розсіюючих, досконалості, визначення, спосіб, структурної, монокристалів
Формула / Реферат:
Способ определения структурного совершенства динамически рассеивающих монокристаллов, согласно котором исследуемый образец облучают полихроматическим пучком рентгеновского излучения и измеряют интегральную интенсивность рефлексов при дифракции излучения для двух положений при повороте образца и определяют статический фактор Дебая-Валлера Lн, отличающийся тем, что дифракцию излучения в обоих положениях образца осуществляют в геометрии Брэгга,...
Спосіб експресного контролю структурної досконалості монокристалів, що динамічно розсіюють
Номер патенту: 20094
Опубліковано: 25.12.1997
Автори: Когут Михайло Тихонович, Низкова Ганна Іванівна, Гурєєв Анатолій Миколайович, Немошкаленко Володимир Володимирович, Кисловський Євген Миколайович, Молодкін Вадим Борисович, Кривицький Владислав Петрович, Оліховський Степан Йосипович, Гаврилова Олена Миколаївна, Лось Андрій Вікторович
МПК: G01N 23/20
Мітки: контролю, монокристалів, структурної, експресного, спосіб, розсіюють, досконалості, динамічної
Формула / Реферат:
Способ экспрессного контроля структурного совершенства динамически рассеивающих монокристаллов, согласно которому исследуемый образец облучают пучком рентгеновского излучения, осуществляют брэгг-дифракцию, измеряют интегральную интенсивность отражения, поворачивают образец таким образом, чтобы реализовалось брэгг-отражение, характеризующееся тем же вектором дифракции, измеряют его интегральную интенсивность, рассчитывают по измеренным...
Спосіб контролю структурної досконалості динамічно розсіюючий монокристалів
Номер патенту: 3699
Опубліковано: 27.12.1994
Автори: Молодкін Вадим Борисович, Гурєєв Микола Анатолійович, Литвинов Юрій Михайлович, Курбаков Олександр Іванович, Кисловський Євген Миколайович, Низкова Ганна Іванівна, Полінур Олександр Вольфович, Оліховський Степан Йосипович, Гурєєв Анатолій Миколайович, Осиновський Максим Євгенович, Сторижко Володимир Юхимович, Немошкаленко Володимир Володимирович, Когут Михайло Тихонович, Кривицький Владислав Петрович, Ковальчук Михайло Валентинович
МПК: G01N 23/20
Мітки: розсіюючий, монокристалів, досконалості, контролю, структурної, спосіб, динамічної
Формула / Реферат:
Способ контроля структурного совершенства динамических рассеивающих монокристаллов, заключающийся в том, что исследуемый образец толщиной t облучают полихроматическим пучком рентгеновского излучения, осуществляют лауэ-дифракцию излучения длины волны t, выбранной из условия, налагаемого на производстве m (l)1, где m - коэффициент фотоэлектрического поглощения на определенной системе плоскостей, измеряют интегральные интенсивности JRH (l)...