G01N 23/20 — за допомогою дифракції, наприклад для дослідження структури кристалів; за допомогою відбитого випромінювання

Номер патенту: 3699

Опубліковано: 27.12.1994

Автори: Оліховський Степан Йосипович, Гурєєв Микола Анатолійович, Кисловський Євген Миколайович, Ковальчук Михайло Валентинович, Молодкін Вадим Борисович, Осиновський Максим Євгенович, Литвинов Юрій Михайлович, Сторижко Володимир Юхимович, Курбаков Олександр Іванович, Кривицький Владислав Петрович, Полінур Олександр Вольфович, Немошкаленко Володимир Володимирович, Гурєєв Анатолій Миколайович, Низкова Ганна Іванівна, Когут Михайло Тихонович

МПК: G01N 23/20

Мітки: контролю, спосіб, динамічної, досконалості, розсіюючий, монокристалів, структурної

Формула / Реферат:

Способ контроля структурного совершенства динамических рассеивающих монокристаллов, за­ключающийся в том, что исследуемый образец толщиной t облучают полихроматическим пучком рентгеновского излучения, осуществляют лауэ-дифракцию излучения длины волны t, выбранной из условия, налагаемого на производстве m (l)1, где m - коэффициент фотоэлектрического погло­щения на определенной системе плоскостей, изме­ряют интегральные интенсивности JRH (l)...