G01R 31/01 — з почерговим випробуванням аналогічних виробів, наприклад бракувальної випробування при масовому виробництві; випробування об’єктів в моменти їх проходження через випробувальний пристрій
Спосіб відбраковки ненадійних кмон інтегральних схем
Номер патенту: 9783
Опубліковано: 30.09.1996
Автори: Пенцак Іван Борисович, Чекмезов Олександр Миколайович, Молчанов Костянтин Вікторович, Ілюк Ігор Євгенович, Остапчук Анатолій Іванович
МПК: G01R 31/26, G01R 31/01, G01R 31/28 ...
Мітки: інтегральних, спосіб, відбраковки, ненадійних, кмон, схем
Формула / Реферат:
(57) 1. Способ отбраковки ненадежных КМОП интегральных схем, включающий пропускание стабильного тока между одним из питающих выводов, объединенным с входными выводами интегральной схемы, и другим питающим выводом интегральной схемы, измерение напряжения между питающими выводами интегральной схемы, отбраковку интегральной схемы по результатам измерений, отличающийся тем, что измеряют напряжение между питающими выводами интегральной схемы при...