Чекмезов Олександр Миколайович

Номер патенту: 11101

Опубліковано: 25.12.1996

Автори: Молчанов Костянтин Вікторович, Ілюк Ігор Євгенович, Бідник Дмитро Ілліч, Пенцак Іван Борисович, Чекмезов Олександр Миколайович

МПК: G01R 31/28

Мітки: дефектів, схем, вивідних, спосіб, виявлення, колах, інтегральних

Формула / Реферат:

(57) Способ обнаружения дефектов в выводных цепях интегральных схем, включающий разделение выводов на группы, подачу на объект контроля испытательного напряжения, регистрацию величины тока на выводах объекта контроля, сравнение полученного результата со значением тока утечки и отбраковку, отличающийся тем, что величину испытательного напряжения выбирают из соотношения0.1 UH =>Uи=>(1+0,02K)Ukгде Uн - номинальное напряжение,...

Номер патенту: 9783

Опубліковано: 30.09.1996

Автори: Молчанов Костянтин Вікторович, Ілюк Ігор Євгенович, Остапчук Анатолій Іванович, Чекмезов Олександр Миколайович, Пенцак Іван Борисович

МПК: G01R 31/01, G01R 31/26, G01R 31/28 ...

Мітки: відбраковки, схем, кмон, спосіб, ненадійних, інтегральних

Формула / Реферат:

(57) 1. Способ отбраковки ненадежных КМОП интегральных схем, включающий пропускание стабильного тока между одним из питающих выводов, объединенным с входными выводами интегральной схемы, и другим питающим выводом интегральной схемы, измерение напряжения между питающими выводами интегральной схемы, отбраковку интегральной схемы по результатам измерений, отличающийся тем, что измеряют напряжение между питающими выводами интегральной схемы при...

Номер патенту: 7149

Опубліковано: 30.06.1995

Автори: Ілюк Ігор Євгенович, Молчанов Костянтин Вікторович, Пенцак Іван Борисович, Воронцов Володимир Анатолійович, Чекмезов Олександр Миколайович, Остапчук Анатолій Іванович

МПК: G01R 31/26

Мітки: ненадійних, кмон, спосіб, відбраковки

Текст:

...замер пробивного напряжения (фиг. 1, где для ИС N: 1, 2 и 3 на кривых ВАХ 1, 2, 3 соответствующими пробивными напряжениями являют- 45 ся Ui\ U2' и из'). Полученные результаты сравнивают с имеющимся (для каждого типа приборов) эталонным пробивным напряжением UN. ИС со значениями пробивного наполнения меньшим U N отбраковываются 50 (например, кривая 2 на фиг. 1, где U2' < UN). На втором этапе замеряют пробивные напряжения при...

Номер патенту: 4059

Опубліковано: 27.12.1994

Автори: Пенцак Іван Борисович, Остапчук Анатолій Іванович, Чекмезов Олександр Миколайович, Молчанов Костянтин Вікторович, Ілюк Ігор Євгенович

МПК: H01L 21/66

Мітки: параметрів, технологічних, контролю, тестова, структура, схем, інтегральних

Формула / Реферат:

Тестовая структура для контроля технологических параметров интегральных схем, содержащая полупроводниковую подложку со сформированными на ней квадратным и полосчатым резисторами, а также соединенные с ними проводящие дорожки, имеющие контактные площадки на концах, отличающаяся тем, что она дополнительно содержит второй квадратный резистор, а на поверхность структуры нанесен маскирующий слой с окнами, расположенными над полосчатым и одним из...

Номер патенту: 2905

Опубліковано: 26.12.1994

Автори: Михальчук Леонід Миколайович, Молчанов Костянтин Вікторович, Пенцак Іван Борисович, Воронцов Володимир Анатолійович, Бідник Дмитро Ілліч, Чекмезов Олександр Миколайович, Іллюк Ігор Євгенович

МПК: G01N 27/20, G01R 17/00

Мітки: схем, відбраковки, кмон, спосіб, інтегральних

Формула / Реферат:

Способ отбраковки КМОП интегральных схем, включающий подачу на объект контроля испытательных воздействий между входными и питающими выводами, замер информативных параметров, сравнение их с эталонными значениями, отбраковку, отличающийся тем, что в качестве информативных параметров используют значения напряжения при номинальном и максимально допустимом токах, а в качестве эталона - нормируемое напряжение при номинальном токе, при этом сначала...