Патенти з міткою «ненадійних»

Номер патенту: 101022

Опубліковано: 25.08.2015

Автори: Шинкаренко Володимир Вікторович, Сліпокуров Віктор Сергійович, Басанець Володимир Васильович, Кудрик Ярослав Ярославович, Болтовець Микола Силович, Бєляєв Олександр Євгенович, Виноградов Анатолій Олегович, Конакова Раїса Василівна

МПК: G01R 31/26, G01R 27/04, G01R 19/28 ...

Мітки: відбраковування, діодів, ненадійних, лавинно-пролітних, потенційно, спосіб, імпульсних

Формула / Реферат:

Спосіб відбраковування потенційно ненадійних імпульсних лавинно-пролітних діодів, який включає прикладання до діода постійної напруги в зворотному напрямку і вимірювання вольт-амперної характеристики (ВАХ1), який відрізняється тим, що додатково прикладають до діода постійну напругу в прямому напрямку і вимірюють ВАХ2, з якої визначають величину послідовного диференційного опору R0 діода, а з ВАХ1 зворотного напряму в пробійній області...

Номер патенту: 65586

Опубліковано: 12.12.2011

Автори: Мілєнін Віктор Володимирович, Редько Роман Анатолійович, Конакова Раїса Василівна, Заяць Микола Сергійович

МПК: G01R 31/27, G01N 23/20

Мітки: спосіб, gаas, гомоепітаксійних, основі, відбраковування, ненадійних, потенційно, структур

Формула / Реферат:

Спосіб відбраковування потенційно ненадійних гомоепітаксійних структур на основі GaAs та ІnР, що базується на вимірюванні спектрів оптичного відбиття в інтервалі довжин хвиль 900-1200 нм, який відрізняється тим, що контрольовані структури після вимірювання спектра оптичного відбиття додатково піддають впливу імпульсного магнітного поля з індукцією 50-70 мТл, тривалістю імпульсу 1,0-4,0 мс, частотою слідування імпульсів 10-20 Гц і тривалістю...

Номер патенту: 9783

Опубліковано: 30.09.1996

Автори: Пенцак Іван Борисович, Остапчук Анатолій Іванович, Чекмезов Олександр Миколайович, Ілюк Ігор Євгенович, Молчанов Костянтин Вікторович

МПК: G01R 31/26, G01R 31/01, G01R 31/28 ...

Мітки: схем, відбраковки, ненадійних, кмон, спосіб, інтегральних

Формула / Реферат:

(57) 1. Способ отбраковки ненадежных КМОП интегральных схем, включающий пропускание стабильного тока между одним из питающих выводов, объединенным с входными выводами интегральной схемы, и другим питающим выводом интегральной схемы, измерение напряжения между питающими выводами интегральной схемы, отбраковку интегральной схемы по результатам измерений, отличающийся тем, что измеряют напряжение между питающими выводами интегральной схемы при...

Номер патенту: 7149

Опубліковано: 30.06.1995

Автори: Молчанов Костянтин Вікторович, Чекмезов Олександр Миколайович, Остапчук Анатолій Іванович, Воронцов Володимир Анатолійович, Ілюк Ігор Євгенович, Пенцак Іван Борисович

МПК: G01R 31/26

Мітки: ненадійних, спосіб, кмон, відбраковки

Текст:

...замер пробивного напряжения (фиг. 1, где для ИС N: 1, 2 и 3 на кривых ВАХ 1, 2, 3 соответствующими пробивными напряжениями являют- 45 ся Ui\ U2' и из'). Полученные результаты сравнивают с имеющимся (для каждого типа приборов) эталонным пробивным напряжением UN. ИС со значениями пробивного наполнения меньшим U N отбраковываются 50 (например, кривая 2 на фиг. 1, где U2' < UN). На втором этапе замеряют пробивные напряжения при...

Номер патенту: 1056

Опубліковано: 30.12.1993

Автори: Сердюк Гай Борисович, Усатенко Василь Григорович, Сазонов Сергій Миколайович

Мітки: мікросхем, відбраковки, нестабільних, потенційно, спосіб, інтегральних, ненадійних

Формула / Реферат:

1. Способ отбраковки потенциально ненадежных и нестабильных интегральных микросхем, заключающийся в том, что выбирают пары выводов контролируемых интегральных микросхем, между которыми содержатся р-n-переходы, подают на выбранные лары выводов линейно возрастающее ступенчатое напряжение и регистрируют на заданном участке вольт-амперной характеристики величину информативного параметра, по которому проводят отбраковку дефектных микросхем,...