Пенцак Іван Борисович

Номер патенту: 11101

Опубліковано: 25.12.1996

Автори: Молчанов Костянтин Вікторович, Ілюк Ігор Євгенович, Чекмезов Олександр Миколайович, Пенцак Іван Борисович, Бідник Дмитро Ілліч

МПК: G01R 31/28

Мітки: спосіб, інтегральних, колах, дефектів, вивідних, схем, виявлення

Формула / Реферат:

(57) Способ обнаружения дефектов в выводных цепях интегральных схем, включающий разделение выводов на группы, подачу на объект контроля испытательного напряжения, регистрацию величины тока на выводах объекта контроля, сравнение полученного результата со значением тока утечки и отбраковку, отличающийся тем, что величину испытательного напряжения выбирают из соотношения0.1 UH =>Uи=>(1+0,02K)Ukгде Uн - номинальное напряжение,...

Номер патенту: 12279

Опубліковано: 25.12.1996

Автори: Молчанов Костянтин Вікторович, Михальчук Леонід Миколайович, Ілюк Ігор Євгенович, Саванєвський Володимир Григорович, Пенцак Іван Борисович

МПК: H03K 17/22, H03K 23/00

Мітки: напруги, лічильник-реєстратор, пропадання

Формула / Реферат:

Счетчик-регистратор пропадания напряже­ния, содержащий диод, транзистор, резистор, счет­ное устройство и конденсатор, первый вывод которого подключен к коллектору транзистора и через диод в прямом направлении к первой шине питания, а второй вывод конденсатора подключен к второй шине питания, отличающийся тем, что, с целью повышения надежности за счет упрощения устройства, в него введен операционный усилитель, прямий вход и первый вывод...

Номер патенту: 9783

Опубліковано: 30.09.1996

Автори: Молчанов Костянтин Вікторович, Ілюк Ігор Євгенович, Чекмезов Олександр Миколайович, Остапчук Анатолій Іванович, Пенцак Іван Борисович

МПК: G01R 31/01, G01R 31/28, G01R 31/26 ...

Мітки: кмон, відбраковки, спосіб, ненадійних, інтегральних, схем

Формула / Реферат:

(57) 1. Способ отбраковки ненадежных КМОП интегральных схем, включающий пропускание стабильного тока между одним из питающих выводов, объединенным с входными выводами интегральной схемы, и другим питающим выводом интегральной схемы, измерение напряжения между питающими выводами интегральной схемы, отбраковку интегральной схемы по результатам измерений, отличающийся тем, что измеряют напряжение между питающими выводами интегральной схемы при...

Номер патенту: 7149

Опубліковано: 30.06.1995

Автори: Ілюк Ігор Євгенович, Пенцак Іван Борисович, Чекмезов Олександр Миколайович, Воронцов Володимир Анатолійович, Молчанов Костянтин Вікторович, Остапчук Анатолій Іванович

МПК: G01R 31/26

Мітки: спосіб, кмон, ненадійних, відбраковки

Текст:

...замер пробивного напряжения (фиг. 1, где для ИС N: 1, 2 и 3 на кривых ВАХ 1, 2, 3 соответствующими пробивными напряжениями являют- 45 ся Ui\ U2' и из'). Полученные результаты сравнивают с имеющимся (для каждого типа приборов) эталонным пробивным напряжением UN. ИС со значениями пробивного наполнения меньшим U N отбраковываются 50 (например, кривая 2 на фиг. 1, где U2' < UN). На втором этапе замеряют пробивные напряжения при...

Номер патенту: 6596

Опубліковано: 29.12.1994

Автори: Молчанов Костянтин Вікторович, Пенцак Іван Борисович, Чеха Володимир Миколайович, Ілюк Ігор Євгенович, Остапчук Анатолій Іванович

МПК: G01R 31/28

Мітки: схем, інтегральних, вивідних, кіл, випробовування, спосіб

Формула / Реферат:

(57) 1. Способ испытания выводных цепей интегральных схем, в соответствии с которым разделяют выводы объекта контроля на группы, подают на него испытательные напряжения, регистрируют значение проводимости на клеммах для подключения объекта контроля, сравнивают полученные результаты с эталонными значениями, производят отбраковку, отличающийся тем, что отбраковку интегральных схем производят по значению проводимости их выводных цепей, которое...

Номер патенту: 6595

Опубліковано: 29.12.1994

Автори: Пенцак Іван Борисович, Молчанов Костянтин Вікторович, Бідник Дмитро Ілліч, Ілюк Ігор Євгенович

МПК: G01R 31/28

Мітки: інтегральних, схем, спосіб, відбраковки

Формула / Реферат:

(57) 1. Способ отбраковки интегральных схем, включающий подачу на объект контроля напряжения питания и испытательных сигналов, замер первого и второго значений сопротивления, определение информативного параметра и отбраковку, отличающийся тем, что в качестве информативного параметра используют квазиравновесное сопротивление объекта контроля в активном режиме, а его значение при номинальном испытательном режиме принимают за эталон, при этом...

Номер патенту: 5309

Опубліковано: 28.12.1994

Автори: Остапчук Анатолій Іванович, Ілюк Ігор Євгенович, Пенцак Іван Борисович, Молчанов Костянтин Вікторович

МПК: G01R 31/28

Мітки: спосіб, мікросхем, інтегральних, електротермотренування

Формула / Реферат:

Способ электротермотренировки интегральных микросхем, в соответствии с которым подают тестовые воздействия и напряжение питания на клеммы для подключения объекта контроля, к выходу же объекта контроля подключают нагрузку, отличающийся тем, что электротермотренировку проводят при температуре окружающей среды в режиме, обеспечивающем пиковую мощность рассеивания объекта контроля, при этом кратковременно подают одновременно на входные и питающие...

Номер патенту: 4059

Опубліковано: 27.12.1994

Автори: Остапчук Анатолій Іванович, Пенцак Іван Борисович, Чекмезов Олександр Миколайович, Ілюк Ігор Євгенович, Молчанов Костянтин Вікторович

МПК: H01L 21/66

Мітки: технологічних, параметрів, інтегральних, структура, схем, контролю, тестова

Формула / Реферат:

Тестовая структура для контроля технологических параметров интегральных схем, содержащая полупроводниковую подложку со сформированными на ней квадратным и полосчатым резисторами, а также соединенные с ними проводящие дорожки, имеющие контактные площадки на концах, отличающаяся тем, что она дополнительно содержит второй квадратный резистор, а на поверхность структуры нанесен маскирующий слой с окнами, расположенными над полосчатым и одним из...

Номер патенту: 2905

Опубліковано: 26.12.1994

Автори: Воронцов Володимир Анатолійович, Бідник Дмитро Ілліч, Михальчук Леонід Миколайович, Чекмезов Олександр Миколайович, Пенцак Іван Борисович, Молчанов Костянтин Вікторович, Іллюк Ігор Євгенович

МПК: G01N 27/20, G01R 17/00

Мітки: відбраковки, інтегральних, кмон, схем, спосіб

Формула / Реферат:

Способ отбраковки КМОП интегральных схем, включающий подачу на объект контроля испытательных воздействий между входными и питающими выводами, замер информативных параметров, сравнение их с эталонными значениями, отбраковку, отличающийся тем, что в качестве информативных параметров используют значения напряжения при номинальном и максимально допустимом токах, а в качестве эталона - нормируемое напряжение при номинальном токе, при этом сначала...