Горєв Микола Борисович
Спосіб вимірювання параметрів руху і вібрації
Номер патенту: 89602
Опубліковано: 25.04.2014
Автори: Пилипенко Олег Вікторович, Горєв Микола Борисович, Коджеспірова Інна Федорівна, Привалов Євген Миколайович, Доронін Олексій Володимирович
МПК: G01H 9/00
Мітки: вібрації, спосіб, вимірювання, руху, параметрів
Формула / Реферат:
Спосіб вимірювання параметрів руху і вібрації, що включає опромінення контрольованого об'єкта електромагнітним сигналом надвисокої частоти, утворення квадратурних сигналів внаслідок інтерференції відбитого від об'єкта сигналу з опорним сигналом у хвилевідній секції з двома зондами, з'єднаними з напівпровідниковими детекторами, і визначення переміщення об'єкта x в момент вимірювання відносно його положення в початковий момент часу t0 за...
Спосіб вимірювання параметрів руху і вібрації
Номер патенту: 80300
Опубліковано: 27.05.2013
Автори: Привалов Євген Миколайович, Коджеспірова Інна Федорівна, Горєв Микола Борисович, Доронін Олексій Володимирович, Пилипенко Олег Вікторович
МПК: G01H 9/00
Мітки: параметрів, вібрації, руху, вимірювання, спосіб
Формула / Реферат:
Спосіб вимірювання параметрів руху і вібрації, що включає опромінення контрольованого об'єкта електромагнітним сигналом надвисокої частоти, утворення квадратурних сигналів внаслідок інтерференції відбитого від об'єкта сигналу з опорним сигналом у хвилевідній секції з двома зондами, розташованими один від одного на відстані однієї восьмої довжини хвилі електромагнітного випромінювання у хвилеводі та з'єднаними з напівпровідниковими...
Спосіб вимірювання параметрів руху і вібрації
Номер патенту: 63184
Опубліковано: 26.09.2011
Автори: Коджеспірова Інна Федорівна, Пилипенко Олег Вікторович, Привалов Євген Миколайович, Горєв Микола Борисович, Доронін Олексій Володимирович
МПК: G01H 9/00
Мітки: руху, спосіб, вібрації, параметрів, вимірювання
Формула / Реферат:
Спосіб вимірювання параметрів руху і вібрації, що включає опромінення контрольованого об'єкта електромагнітним сигналом надвисокої частоти, утворення квадратурних сигналів внаслідок інтерференції відбитого від об'єкта сигналу з опорним сигналом у хвилевідній секції з двома зондами, розташованими один від одного на відстані однієї восьмої довжини хвилі електромагнітного випромінювання у хвилеводі та з'єднаними з напівпровідниковими...
Спосіб вимірювання параметрів руху і вібрації
Номер патенту: 55873
Опубліковано: 27.12.2010
Автори: Пилипенко Олег Вікторович, Привалов Євген Миколайович, Горєв Микола Борисович, Коджеспірова Інна Федорівна
МПК: G01H 9/00
Мітки: руху, параметрів, спосіб, вібрації, вимірювання
Формула / Реферат:
Спосіб вимірювання параметрів руху і вібрації, що включає опромінення контрольованого об'єкта електромагнітним сигналом надвисокої частоти і утворення квадратурних сигналів внаслідок інтерференції відбитого від об'єкта сигналу з опорним сигналом з їхньою наступною математичною обробкою, який відрізняється тим, що зазначену інтерференцію здійснюють у хвилевідній секції з двома зондами, розташованими один від одного на відстані однієї восьмої...
Спосіб визначення концентрації незаповнених глибоких центрів
Номер патенту: 43912
Опубліковано: 10.09.2009
Автори: Коджеспірова Інна Федорівна, Горєв Микола Борисович, Привалов Євген Миколайович
МПК: H01L 21/66
Мітки: глибоких, незаповнених, центрів, спосіб, визначення, концентрації
Формула / Реферат:
Спосіб визначення концентрації незаповнених глибоких центрів, що включає вимірювання вольт-фарадної характеристики та визначення шуканої величини за математичною формулою, який відрізняється тим, що вимірюється сімейство вольт-фарадних характеристик у темряві та при різних інтенсивностях інфрачервоного освітлення, визначаються точки перегину вольт-фарадних характеристик, в яких вони стають з опуклих униз опуклими догори, за цими точками...
Спосіб визначення концентрації глибоких центрів у широкозонному напівпровіднику польового транзистора на прямій gaas – gaalas гетероструктурі з селективним легуванням
Номер патенту: 26626
Опубліковано: 11.10.1999
Автори: Уколов Олексій Тихонович, Горєв Микола Борисович, Макарова Тетяна Викторівна, Коджеспірова Іна Федорівна, Прохоров Євген Федорович, Еппель Володимир Ілліч
МПК: H01L 21/66, G01R 31/26
Мітки: транзистора, gaalas, глибоких, центрів, прямій, визначення, селективним, спосіб, польового, напівпровіднику, гетероструктурі, легуванням, широкозонному, концентрації
Формула / Реферат:
Способ определения концентрации глубоких центров в широкозонном полупроводнике полевого транзистора на прямой GaAs-GaAlAs гетероструктуре с селективным легированием, включающий приложение к барьеру Шотки обратного смещения V и импульса прямого смещения Vим, измерение тока и вычисление искомой величины, отличающийся тем, что к омическим контактам (истоковому и стоковому) прикладывают постоянное напряжение Uси, соответствующее линейному...