Чугай Олег Миколайович

Номер патенту: 78882

Опубліковано: 10.04.2013

Автори: Полубояров Олексій Олександрович, Чугай Олег Миколайович, Герасименко Андрій Спартакович, Комарь Віталій Корнійович, Абашин Сергій Леонідович, Сулима Сергій Віталійович, Олійник Сергій Володимирович, Новохатська Тетяна Миколаївна

МПК: G01N 13/00

Мітки: фотоактивних, матеріалах, центрів, визначення, спосіб, кристалічних

Формула / Реферат:

Спосіб визначення фотоактивних центрів в кристалічних матеріалах шляхом вимірювання прирощення ефективних значень діелектричної проникності  та коефіцієнта діелектричних втрат  в залежності від довжини хвилі монохроматичного світла  з...

Номер патенту: 76301

Опубліковано: 25.12.2012

Автори: Олійник Сергій Володимирович, Охрімовський Андрій Михайлович, Чугай Олег Миколайович, Комарь Віталій Корнійович, Сулима Сергій Віталійович, Яцина Юрій Анатолійович, Полубояров Олексій Олександрович, Терзін Ігор Сергійович

МПК: G01T 1/24

Мітки: вимірювання, експозиційної, спосіб, випромінювання, потужності, дози, електромагнітного

Формула / Реферат:

Спосіб вимірювання експозиційної дози електромагнітного випромінювання шляхом подачі електричної напруги на пластину з високоомного напівпровідника, який відрізняється тим, що пластину виготовляють з твердого розчину високоомного напівпровідника, а електроди створюють на обох поверхнях пластини; на пластину подають змінну електричну напругу, вимірюють частотні залежності електроємності

Номер патенту: 76300

Опубліковано: 25.12.2012

Автори: Комарь Віталій Корнійович, Сулима Сергій Віталійович, Шматко Олександр Олександрович, Олійник Сергій Володимирович, Терзін Ігор Сергійович, Полубояров Олексій Олександрович, Новохатська Тетяна Миколаївна, Чугай Олег Миколайович

МПК: G01R 31/26

Мітки: спосіб, напівпровідників, високоомних, питомого, розчинів, твердих, вимірювання, електроопору

Формула / Реферат:

Спосіб вимірювання питомого електроопору високоомних твердих розчинів напівпровідників шляхом вимірювання в низькочастотній області тангенса кута діелектричних втрат  та електроємності  вимірювального конденсатора, який утворено за допомогою плоских електродів, діелектричних шарів та досліджуваного зразка;...

Номер патенту: 92595

Опубліковано: 25.11.2010

Автори: Абашин Сергій Леонідович, Чугай Олег Миколайович, Пузіков В'ячеслав Михайлович, Олійник Сергій Володимирович, Комарь Віталій Корнійович, Сулима Сергій Віталійович

МПК: G01J 5/50, G01N 27/22

Мітки: визначення, спосіб, матеріалах, кристалічних, розподілу, електрофізичних, неоднорідностей

Формула / Реферат:

Спосіб визначення розподілу електрофізичних неоднорідностей в кристалічних матеріалах шляхом переміщення електродів відносно поверхні зразка з одночасним вимірюванням в змінному електричному полі їх електрофізичних параметрів, який відрізняється тим, що на плоскому електроді розміщують еталонний зразок товщиною  з pівномірним розподілом діелектричної проникності

Номер патенту: 90369

Опубліковано: 26.04.2010

Автори: Сулима Сергій Віталійович, Пузіков В'ячеслав Михайлович, Терзін Ігор Сергійович, Чуйко Олексій Сергійович, Олійник Сергій Володимирович, Чугай Олег Миколайович, Абашин Сергій Леонідович, Комарь Віталій Корнійович

МПК: G01R 31/26, H01L 21/66

Мітки: носіїв, нерівноважних, часу, струму, спосіб, напівпровідниках, вимірювання, життя

Формула / Реферат:

Спосіб вимірювання часу життя нерівноважних носіїв струму у напівпровідниках шляхом одержання частотної залежності фотопровідності, зумовленої дією прямокутних імпульсів світла, який відрізняється тим, що вимірюють амплітуду першої гармоніки сигналу фотопровідності, одержують залежність її розкладу у ряд Фур’є від частоти слідування імпульсів фотозбудження і з цієї залежності визначають час життя нерівноважних носіїв струму.

Номер патенту: 90037

Опубліковано: 25.03.2010

Автори: Пузіков В'ячеслав Михайлович, Герасименко Андрій Спартакович, Чугай Олег Миколайович, Олійник Сергій Володимирович, Сулима Сергій Віталійович, Абашин Сергій Леонідович, Морозов Дмитро Сергійович, Комарь Віталій Корнійович

МПК: G01R 31/26

Мітки: твердих, питомого, електроопору, високоомних, напівпровідників, вимірювання, спосіб, розчинів

Формула / Реферат:

Спосіб вимірювання питомого електроопору високоомних твердих розчинів напівпровідників шляхом вимірювання тангенса кута діелектричних втрат вимірювального конденсатора, який утворений за допомогою плоских електродів діелектричних шарів та досліджуваного зразка, у залежності від частоти змінного електричного поля в низькочастотній області, який відрізняється тим, що вимірюють електроємність вимірювального конденсатора, а питомий електроопір rs...

Номер патенту: 77464

Опубліковано: 15.12.2006

Автори: Мигаль Валерій Павлович, Комарь Віталій Корнійович, Абашин Сергій Леонідович, Пузіков В'ячеслав Михайлович, Чугай Олег Миколайович, Сулима Сергій Віталійович

МПК: G01N 21/63, G01J 1/10

Мітки: матеріалах, центрів, спосіб, кристалічних, визначення, фотоактивних

Формула / Реферат:

1. Спосіб визначення фотоактивних центрів в кристалічних матеріалах шляхом вимірювання залежності ефективної діелектричної проникності і коефіцієнта діелектричних втрат зразка від довжини хвилі фотозбудження та побудови відповідних діаграм в комплексній площині з використанням вимірювання при планарній та об'ємній схемах розміщення електродів на зразку, визначення значень довжини хвилі λі фотозбудження як таких, що відповідають...

Номер патенту: 65426

Опубліковано: 15.03.2004

Автори: Мигаль Валерій Павлович, Олійник Сергій Володимирович, Чугай Олег Миколайович, Пузіков В'ячеслав Михайлович, Комарь Віталій Корнійович, Сулима Сергій Віталійович

МПК: G01N 13/10

Мітки: приповерхневого, напівпровіднику, потенціалу, електростатичного, спосіб, вимірювання

Формула / Реферат:

Спосіб вимірювання приповерхневого електростатичного потенціалу в напівпровіднику, що включає отримання залежності від довжини хвилі фотозбудження приросту ефективних значень діелектричної проникності і коефіцієнта діелектричних втрат зразка, побудову в комплексній площині відповідних діаграм, з яких визначається характеристична довжина хвилі λi та глибина залягання відповідного енергетичного рівня відносно верхньої межі валентної зони...

Номер патенту: 62758

Опубліковано: 15.12.2003

Автори: Рибалка Ірина Анатоліївна, Фомін Олександр Сергійович, Клименко Ігор Андрійович, Чугай Олег Миколайович, Мигаль Валерій Павлович

МПК: G01B 11/00, G01B 11/16

Мітки: структури, неоднорідностей, визначення, кристала, розподілу, спосіб

Формула / Реферат:

Спосіб визначення розподілу неоднорідностей структури кристала шляхом сканування кристала монохроматичним світловим зондом і вимірювання діелектричних параметрів, який відрізняється тим, що визначають залежність коефіцієнта діелектричних втрат зразка від частоти електричного поля в ненавантаженому стані, визначають частоту поля, що відповідає максимуму коефіцієнта діелектричних втрат, на визначеній частоті визначають залежність коефіцієнта...

Номер патенту: 62757

Опубліковано: 15.12.2003

Автори: Чугай Олег Миколайович, Мигаль Валерій Павлович, Клименко Ігор Андрійович, Фомін Олександр Сергійович, Сулима Сергій Віталійович

МПК: H01L 21/00, H01L 21/263

Мітки: спосіб, матеріалів, обробки, п'єзоелектричних, кристалічних, акустичної

Формула / Реферат:

Спосіб акустичної обробки п'єзоелектричних кристалічних матеріалів шляхом послідовного збудження найбільш нестабільних власних пружних коливань та вимірювання при цьому їх частоти, амплітуди та стабільності в часі, який відрізняється тим, що в кристалічному зразку збуджують високочастотні власні пружні коливання, які промодульовані прямокутними імпульсами при одночасному монохроматичному підсвічуванні з області максимуму домішкової...