Олійник Сергій Володимирович
Склад вівсяного печива
Номер патенту: 120202
Опубліковано: 25.10.2017
Автори: Доценко Віктор Федорович, Арпуль Оксана Володимирівна, Олійник Сергій Володимирович, Кобець Олена Сергіївна
МПК: A21D 13/047, A21D 2/36, A21D 13/80 ...
Мітки: вівсяного, склад, печива
Формула / Реферат:
Склад вівсяного печива, що включає в себе борошно пшеничне вищого сорту, борошно вівсяне, цукор-пісок, масло вершкове, родзинки, корицю, ванілін, натрій двовуглекислий, сіль, який відрізняється тим, що додатково містить борошно кунжутне та ізолят соєвий, у такому співвідношенні компонентів, мас. %: борошно пшеничне вищого сорту 13,00…16,00 борошно вівсяне 13,00…14,00 ...
Спосіб визначення фотоактивних центрів в кристалічних матеріалах
Номер патенту: 78882
Опубліковано: 10.04.2013
Автори: Новохатська Тетяна Миколаївна, Абашин Сергій Леонідович, Олійник Сергій Володимирович, Герасименко Андрій Спартакович, Чугай Олег Миколайович, Сулима Сергій Віталійович, Комарь Віталій Корнійович, Полубояров Олексій Олександрович
МПК: G01N 13/00
Мітки: центрів, фотоактивних, спосіб, кристалічних, визначення, матеріалах
Формула / Реферат:
Спосіб визначення фотоактивних центрів в кристалічних матеріалах шляхом вимірювання прирощення ефективних значень діелектричної проникності та коефіцієнта діелектричних втрат в залежності від довжини хвилі монохроматичного світла з...
Спосіб вимірювання потужності експозиційної дози електромагнітного випромінювання
Номер патенту: 76301
Опубліковано: 25.12.2012
Автори: Охрімовський Андрій Михайлович, Терзін Ігор Сергійович, Сулима Сергій Віталійович, Полубояров Олексій Олександрович, Комарь Віталій Корнійович, Яцина Юрій Анатолійович, Чугай Олег Миколайович, Олійник Сергій Володимирович
МПК: G01T 1/24
Мітки: випромінювання, спосіб, електромагнітного, вимірювання, дози, потужності, експозиційної
Формула / Реферат:
Спосіб вимірювання експозиційної дози електромагнітного випромінювання шляхом подачі електричної напруги на пластину з високоомного напівпровідника, який відрізняється тим, що пластину виготовляють з твердого розчину високоомного напівпровідника, а електроди створюють на обох поверхнях пластини; на пластину подають змінну електричну напругу, вимірюють частотні залежності електроємності
Спосіб вимірювання питомого електроопору високоомних твердих розчинів напівпровідників
Номер патенту: 76300
Опубліковано: 25.12.2012
Автори: Олійник Сергій Володимирович, Терзін Ігор Сергійович, Сулима Сергій Віталійович, Новохатська Тетяна Миколаївна, Полубояров Олексій Олександрович, Комарь Віталій Корнійович, Чугай Олег Миколайович, Шматко Олександр Олександрович
МПК: G01R 31/26
Мітки: твердих, вимірювання, високоомних, розчинів, питомого, напівпровідників, спосіб, електроопору
Формула / Реферат:
Спосіб вимірювання питомого електроопору високоомних твердих розчинів напівпровідників шляхом вимірювання в низькочастотній області тангенса кута діелектричних втрат та електроємності вимірювального конденсатора, який утворено за допомогою плоских електродів, діелектричних шарів та досліджуваного зразка;...
Спосіб визначення розподілу електрофізичних неоднорідностей в кристалічних матеріалах
Номер патенту: 92595
Опубліковано: 25.11.2010
Автори: Пузіков В'ячеслав Михайлович, Чугай Олег Миколайович, Абашин Сергій Леонідович, Комарь Віталій Корнійович, Сулима Сергій Віталійович, Олійник Сергій Володимирович
МПК: G01N 27/22, G01J 5/50
Мітки: матеріалах, визначення, спосіб, електрофізичних, кристалічних, розподілу, неоднорідностей
Формула / Реферат:
Спосіб визначення розподілу електрофізичних неоднорідностей в кристалічних матеріалах шляхом переміщення електродів відносно поверхні зразка з одночасним вимірюванням в змінному електричному полі їх електрофізичних параметрів, який відрізняється тим, що на плоскому електроді розміщують еталонний зразок товщиною з pівномірним розподілом діелектричної проникності
Спосіб вимірювання часу життя нерівноважних носіїв струму у напівпровідниках
Номер патенту: 90369
Опубліковано: 26.04.2010
Автори: Сулима Сергій Віталійович, Терзін Ігор Сергійович, Олійник Сергій Володимирович, Комарь Віталій Корнійович, Пузіков В'ячеслав Михайлович, Чугай Олег Миколайович, Чуйко Олексій Сергійович, Абашин Сергій Леонідович
МПК: H01L 21/66, G01R 31/26
Мітки: струму, життя, нерівноважних, носіїв, спосіб, напівпровідниках, вимірювання, часу
Формула / Реферат:
Спосіб вимірювання часу життя нерівноважних носіїв струму у напівпровідниках шляхом одержання частотної залежності фотопровідності, зумовленої дією прямокутних імпульсів світла, який відрізняється тим, що вимірюють амплітуду першої гармоніки сигналу фотопровідності, одержують залежність її розкладу у ряд Фур’є від частоти слідування імпульсів фотозбудження і з цієї залежності визначають час життя нерівноважних носіїв струму.
Спосіб вимірювання питомого електроопору високоомних твердих розчинів напівпровідників
Номер патенту: 90037
Опубліковано: 25.03.2010
Автори: Комарь Віталій Корнійович, Пузіков В'ячеслав Михайлович, Герасименко Андрій Спартакович, Морозов Дмитро Сергійович, Чугай Олег Миколайович, Сулима Сергій Віталійович, Абашин Сергій Леонідович, Олійник Сергій Володимирович
МПК: G01R 31/26
Мітки: розчинів, високоомних, твердих, вимірювання, напівпровідників, спосіб, питомого, електроопору
Формула / Реферат:
Спосіб вимірювання питомого електроопору високоомних твердих розчинів напівпровідників шляхом вимірювання тангенса кута діелектричних втрат вимірювального конденсатора, який утворений за допомогою плоских електродів діелектричних шарів та досліджуваного зразка, у залежності від частоти змінного електричного поля в низькочастотній області, який відрізняється тим, що вимірюють електроємність вимірювального конденсатора, а питомий електроопір rs...
Спосіб вимірювання приповерхневого електростатичного потенціалу в напівпровіднику
Номер патенту: 65426
Опубліковано: 15.03.2004
Автори: Пузіков В'ячеслав Михайлович, Мигаль Валерій Павлович, Сулима Сергій Віталійович, Олійник Сергій Володимирович, Чугай Олег Миколайович, Комарь Віталій Корнійович
МПК: G01N 13/10
Мітки: вимірювання, приповерхневого, напівпровіднику, потенціалу, електростатичного, спосіб
Формула / Реферат:
Спосіб вимірювання приповерхневого електростатичного потенціалу в напівпровіднику, що включає отримання залежності від довжини хвилі фотозбудження приросту ефективних значень діелектричної проникності і коефіцієнта діелектричних втрат зразка, побудову в комплексній площині відповідних діаграм, з яких визначається характеристична довжина хвилі λi та глибина залягання відповідного енергетичного рівня відносно верхньої межі валентної зони...