Айс Джин Емері
Спосіб багатопараметричної структурної діагностики монокристалів з декількома типами дефектів
Номер патенту: 89594
Опубліковано: 10.02.2010
Автори: Молодкін Віталій Вадимович, Гинько Ігор Володимирович, Молодкін Вадим Борисович, Білоцька Алла Олексіївна, Лень Євген Георгійович, Низкова Ганна Іванівна, Носик Валєрій Лєонідовіч, Айс Джин Емері, Кисловський Євген Миколайович, Булавін Леонід Анатолійович, Барабаш Роза Ісаківна, Первак Катерина Вадимівна, Ковальчук Міхаіл Валєнтіновіч, Сторижко Володимир Юхимович, Оліховський Степан Йосипович, Карнаухов Іван Михайлович, Татаренко Валентин Андрійович, Шпак Анатолій Петрович
МПК: G01N 23/20
Мітки: багатопараметричної, дефектів, типами, декількома, монокристалів, діагностики, структурної, спосіб
Формула / Реферат:
Спосіб багатопараметричної структурної діагностики монокристалів з декількома типами дефектів, що включає опромінення досліджуваного монокристала пучком рентгенівських променів вибраної довжини хвилі та відомої інтенсивності , здійснення у ньому Брегг-дифракції на системі площин, вимірювання за допомогою...