Барабаш Роза Ісаківна
Спосіб багатопараметричної структурної діагностики монокристалів з декількома типами дефектів
Номер патенту: 89594
Опубліковано: 10.02.2010
Автори: Сторижко Володимир Юхимович, Гинько Ігор Володимирович, Барабаш Роза Ісаківна, Татаренко Валентин Андрійович, Низкова Ганна Іванівна, Білоцька Алла Олексіївна, Айс Джин Емері, Молодкін Віталій Вадимович, Кисловський Євген Миколайович, Булавін Леонід Анатолійович, Молодкін Вадим Борисович, Лень Євген Георгійович, Оліховський Степан Йосипович, Ковальчук Міхаіл Валєнтіновіч, Первак Катерина Вадимівна, Носик Валєрій Лєонідовіч, Шпак Анатолій Петрович, Карнаухов Іван Михайлович
МПК: G01N 23/20
Мітки: діагностики, багатопараметричної, декількома, типами, дефектів, структурної, спосіб, монокристалів
Формула / Реферат:
Спосіб багатопараметричної структурної діагностики монокристалів з декількома типами дефектів, що включає опромінення досліджуваного монокристала пучком рентгенівських променів вибраної довжини хвилі та відомої інтенсивності , здійснення у ньому Брегг-дифракції на системі площин, вимірювання за допомогою...
Спосіб визначення структурної досконалості монокристалів
Номер патенту: 22455
Опубліковано: 25.04.2007
Автори: Григор'єв Данило Олегович, Гинько Ігор Володимирович, Шпак Анатолій Петрович, Молодкін Вадим Борисович, Низкова Ганна Іванівна, Білоцька Алла Олексіївна, Барабаш Роза Ісаківна, Когут Михайло Тихонович
МПК: G01N 23/20
Мітки: визначення, спосіб, монокристалів, досконалості, структурної
Формула / Реферат:
Спосіб визначення структурної досконалості монокристалів, що включає визначення товщини поверхневого порушеного шару у монокристалах після механічної обробки та полягає в тому, що на досліджуваний монокристал спрямовують пучок монохроматичного рентгенівського випромінювання, здійснюють асиметричну Брегг-дифракцію, попередньо визначають кути падіння рентгенівського випромінювання на поверхню зразка, яким відповідають спрямовуючі косинуси
Спосіб визначення товщини порушеного поверхневого шару в монокристалах після механічної обробки
Номер патенту: 11259
Опубліковано: 15.12.2005
Автори: Шпак Анатолій Петрович, Барабаш Роза Ісаківна, Молодкін Вадим Борисович, Гинько Ігор Володимирович, Білоцька Алла Олексіївна, Григор'єв Данило Олегович, Когут Михайло Тихонович, Низкова Ганна Іванівна
МПК: G01N 23/20
Мітки: порушеного, монокристалах, механічної, товщини, шару, спосіб, поверхневого, визначення, обробки
Формула / Реферат:
Спосіб визначення товщини поверхневого порушеного шару в монокристалах після механічної обробки, що включає направлення на досліджуваний монокристалічний зразок пучка монохроматичного рентгенівського випромінювання, здійснення дифракції, вимірювання інтенсивності дифрагованого випромінювання і визначення товщини порушеного шару, який відрізняється тим, що здійснюють асиметричну Брегг-дифракцію, попередньо визначають кути падіння...