Карнаухов Іван Михайлович
Спосіб фазової рентгенографії некристалічного об’єкта довільних форми і розмірів
Номер патенту: 111437
Опубліковано: 25.04.2016
Автори: Шелудченко Борис Володимирович, Горбик Петро Петрович, Патон Борис Євгенович, Веліховський Глеб Олегович, Карнаухов Іван Михайлович, Лізунова Світлана Вячеславівна, Третяк Олег Васильович, Фузік Катерина Вячеславівна, Оліховський Степан Йосипович, Низкова Ганна Іванівна, Молодкін Вадим Борисович, Лізунов В'ячеслав В'ячеславович, Молодкін Віталій Вадимович, Шевченко Анатолій Дмитрович, Гаєвський Олександр Юлійович, Сторижко Володимир Юхимович, Репецький Станіслав Петрович, Неклюдов Іван Матвійович, Толмачов Микола Григорович
МПК: G03B 42/02, G01N 23/083
Мітки: довільних, рентгенографії, форми, фазової, розмірів, некристалічного, об'єкта, спосіб
Формула / Реферат:
1. Спосіб фазової рентгенографії некристалічного об'єкта довільних форми і розмірів, що включає формування монохроматором слаборозбіжного монохроматичного пучка у багатоосьовій рентгенівській установці, спрямування пучка на об'єкт, формування зображення об'єкта динамічним розсіянням в ньому пучка з подальшим бреггівським динамічним його відбиванням від досконалого монокристала-аналізатора, який відрізняється тим, що вимірюють інструментальні...
Спосіб багатопараметричної структурної діагностики монокристалів з декількома типами дефектів
Номер патенту: 89594
Опубліковано: 10.02.2010
Автори: Лень Євген Георгійович, Молодкін Віталій Вадимович, Носик Валєрій Лєонідовіч, Молодкін Вадим Борисович, Низкова Ганна Іванівна, Сторижко Володимир Юхимович, Гинько Ігор Володимирович, Шпак Анатолій Петрович, Айс Джин Емері, Оліховський Степан Йосипович, Татаренко Валентин Андрійович, Первак Катерина Вадимівна, Білоцька Алла Олексіївна, Ковальчук Міхаіл Валєнтіновіч, Кисловський Євген Миколайович, Карнаухов Іван Михайлович, Булавін Леонід Анатолійович, Барабаш Роза Ісаківна
МПК: G01N 23/20
Мітки: дефектів, спосіб, діагностики, монокристалів, декількома, структурної, типами, багатопараметричної
Формула / Реферат:
Спосіб багатопараметричної структурної діагностики монокристалів з декількома типами дефектів, що включає опромінення досліджуваного монокристала пучком рентгенівських променів вибраної довжини хвилі та відомої інтенсивності , здійснення у ньому Брегг-дифракції на системі площин, вимірювання за допомогою...