Татаренко Валентин Андрійович
Спосіб багатопараметричної структурної діагностики монокристалів з декількома типами дефектів
Номер патенту: 89594
Опубліковано: 10.02.2010
Автори: Барабаш Роза Ісаківна, Карнаухов Іван Михайлович, Шпак Анатолій Петрович, Молодкін Віталій Вадимович, Сторижко Володимир Юхимович, Ковальчук Міхаіл Валєнтіновіч, Кисловський Євген Миколайович, Гинько Ігор Володимирович, Молодкін Вадим Борисович, Лень Євген Георгійович, Айс Джин Емері, Носик Валєрій Лєонідовіч, Низкова Ганна Іванівна, Оліховський Степан Йосипович, Первак Катерина Вадимівна, Білоцька Алла Олексіївна, Булавін Леонід Анатолійович, Татаренко Валентин Андрійович
МПК: G01N 23/20
Мітки: діагностики, декількома, багатопараметричної, структурної, типами, монокристалів, дефектів, спосіб
Формула / Реферат:
Спосіб багатопараметричної структурної діагностики монокристалів з декількома типами дефектів, що включає опромінення досліджуваного монокристала пучком рентгенівських променів вибраної довжини хвилі та відомої інтенсивності , здійснення у ньому Брегг-дифракції на системі площин, вимірювання за допомогою...