Первак Катерина Вадимівна
Спосіб багатопараметричної структурної діагностики монокристалів з декількома типами дефектів
Номер патенту: 89594
Опубліковано: 10.02.2010
Автори: Лень Євген Георгійович, Булавін Леонід Анатолійович, Шпак Анатолій Петрович, Карнаухов Іван Михайлович, Молодкін Вадим Борисович, Сторижко Володимир Юхимович, Білоцька Алла Олексіївна, Гинько Ігор Володимирович, Молодкін Віталій Вадимович, Татаренко Валентин Андрійович, Ковальчук Міхаіл Валєнтіновіч, Кисловський Євген Миколайович, Низкова Ганна Іванівна, Айс Джин Емері, Первак Катерина Вадимівна, Оліховський Степан Йосипович, Носик Валєрій Лєонідовіч, Барабаш Роза Ісаківна
МПК: G01N 23/20
Мітки: спосіб, монокристалів, дефектів, структурної, діагностики, типами, багатопараметричної, декількома
Формула / Реферат:
Спосіб багатопараметричної структурної діагностики монокристалів з декількома типами дефектів, що включає опромінення досліджуваного монокристала пучком рентгенівських променів вибраної довжини хвилі та відомої інтенсивності , здійснення у ньому Брегг-дифракції на системі площин, вимірювання за допомогою...
Спосіб багатопараметричної структурної діагностики монокристалів з декількома типами дефектів
Номер патенту: 36075
Опубліковано: 10.10.2008
Автори: Молодкін Віталій Вадимович, Лень Євген Георгійович, Ковальчук Михайло Валентинович, Шпак Анатолій Петрович, Гинько Ігор Володимирович, Молодкін Вадим Борисович, Низкова Ганна Іванівна, Первак Катерина Вадимівна, Оліховський Степан Йосипович, Кисловський Євген Миколайович, Білоцька Алла Олексіївна
МПК: G01N 23/20
Мітки: типами, спосіб, декількома, дефектів, багатопараметричної, монокристалів, структурної, діагностики
Формула / Реферат:
Спосіб багатопараметричної структурної діагностики монокристалів з декількома типами дефектів, який полягає в тому, що досліджуваний монокристал опромінюють пучком рентгенівських променів вибраної довжини хвилі і відомої інтенсивності , здійснюють в ньому брегг-дифракцію на системі площин (hkl), вимірюють...