Білоцька Алла Олексіївна

Номер патенту: 89594

Опубліковано: 10.02.2010

Автори: Первак Катерина Вадимівна, Кисловський Євген Миколайович, Оліховський Степан Йосипович, Молодкін Віталій Вадимович, Молодкін Вадим Борисович, Сторижко Володимир Юхимович, Низкова Ганна Іванівна, Шпак Анатолій Петрович, Ковальчук Міхаіл Валєнтіновіч, Носик Валєрій Лєонідовіч, Карнаухов Іван Михайлович, Лень Євген Георгійович, Айс Джин Емері, Білоцька Алла Олексіївна, Татаренко Валентин Андрійович, Барабаш Роза Ісаківна, Булавін Леонід Анатолійович, Гинько Ігор Володимирович

МПК: G01N 23/20

Мітки: спосіб, декількома, типами, дефектів, монокристалів, діагностики, багатопараметричної, структурної

Формула / Реферат:

Спосіб багатопараметричної структурної діагностики монокристалів з декількома типами дефектів, що включає опромінення досліджуваного монокристала пучком рентгенівських променів вибраної довжини хвилі  та відомої інтенсивності , здійснення у ньому Брегг-дифракції на системі площин, вимірювання за допомогою...

Номер патенту: 36075

Опубліковано: 10.10.2008

Автори: Молодкін Вадим Борисович, Ковальчук Михайло Валентинович, Первак Катерина Вадимівна, Молодкін Віталій Вадимович, Білоцька Алла Олексіївна, Шпак Анатолій Петрович, Лень Євген Георгійович, Кисловський Євген Миколайович, Гинько Ігор Володимирович, Низкова Ганна Іванівна, Оліховський Степан Йосипович

МПК: G01N 23/20

Мітки: багатопараметричної, монокристалів, декількома, дефектів, структурної, діагностики, спосіб, типами

Формула / Реферат:

Спосіб багатопараметричної структурної діагностики монокристалів з декількома типами дефектів, який полягає в тому, що досліджуваний монокристал опромінюють пучком рентгенівських променів вибраної довжини хвилі  і відомої інтенсивності , здійснюють в ньому брегг-дифракцію на системі площин (hkl), вимірюють...

Номер патенту: 22455

Опубліковано: 25.04.2007

Автори: Білоцька Алла Олексіївна, Барабаш Роза Ісаківна, Гинько Ігор Володимирович, Когут Михайло Тихонович, Григор'єв Данило Олегович, Низкова Ганна Іванівна, Молодкін Вадим Борисович, Шпак Анатолій Петрович

МПК: G01N 23/20

Мітки: досконалості, спосіб, визначення, структурної, монокристалів

Формула / Реферат:

Спосіб визначення структурної досконалості монокристалів, що включає визначення товщини поверхневого порушеного шару у монокристалах після механічної обробки та полягає в тому, що на досліджуваний монокристал спрямовують пучок монохроматичного рентгенівського випромінювання, здійснюють асиметричну Брегг-дифракцію, попередньо визначають кути падіння рентгенівського випромінювання на поверхню зразка, яким відповідають спрямовуючі косинуси

Номер патенту: 11259

Опубліковано: 15.12.2005

Автори: Барабаш Роза Ісаківна, Григор'єв Данило Олегович, Молодкін Вадим Борисович, Білоцька Алла Олексіївна, Шпак Анатолій Петрович, Низкова Ганна Іванівна, Гинько Ігор Володимирович, Когут Михайло Тихонович

МПК: G01N 23/20

Мітки: шару, порушеного, обробки, товщини, монокристалах, поверхневого, спосіб, механічної, визначення

Формула / Реферат:

Спосіб визначення товщини поверхневого порушеного шару в монокристалах після механічної обробки, що включає направлення на досліджуваний монокристалічний зразок пучка монохроматичного рентгенівського випромінювання, здійснення дифракції, вимірювання інтенсивності дифрагованого випромінювання і визначення товщини порушеного шару, який відрізняється тим, що здійснюють асиметричну Брегг-дифракцію, попередньо визначають кути падіння...