Молодкін Віталій Вадимович
Спосіб фазової рентгенографії некристалічного об’єкта довільних форми і розмірів
Номер патенту: 111437
Опубліковано: 25.04.2016
Автори: Лізунов В'ячеслав В'ячеславович, Молодкін Вадим Борисович, Веліховський Глеб Олегович, Лізунова Світлана Вячеславівна, Толмачов Микола Григорович, Шевченко Анатолій Дмитрович, Фузік Катерина Вячеславівна, Молодкін Віталій Вадимович, Гаєвський Олександр Юлійович, Горбик Петро Петрович, Неклюдов Іван Матвійович, Карнаухов Іван Михайлович, Шелудченко Борис Володимирович, Сторижко Володимир Юхимович, Низкова Ганна Іванівна, Третяк Олег Васильович, Репецький Станіслав Петрович, Патон Борис Євгенович, Оліховський Степан Йосипович
МПК: G01N 23/083, G03B 42/02
Мітки: некристалічного, спосіб, фазової, рентгенографії, об'єкта, довільних, розмірів, форми
Формула / Реферат:
1. Спосіб фазової рентгенографії некристалічного об'єкта довільних форми і розмірів, що включає формування монохроматором слаборозбіжного монохроматичного пучка у багатоосьовій рентгенівській установці, спрямування пучка на об'єкт, формування зображення об'єкта динамічним розсіянням в ньому пучка з подальшим бреггівським динамічним його відбиванням від досконалого монокристала-аналізатора, який відрізняється тим, що вимірюють інструментальні...
Спосіб багатопараметричної структурної діагностики монокристалів з декількома типами дефектів
Номер патенту: 89594
Опубліковано: 10.02.2010
Автори: Лень Євген Георгійович, Оліховський Степан Йосипович, Татаренко Валентин Андрійович, Носик Валєрій Лєонідовіч, Кисловський Євген Миколайович, Булавін Леонід Анатолійович, Барабаш Роза Ісаківна, Сторижко Володимир Юхимович, Айс Джин Емері, Молодкін Віталій Вадимович, Гинько Ігор Володимирович, Шпак Анатолій Петрович, Первак Катерина Вадимівна, Білоцька Алла Олексіївна, Ковальчук Міхаіл Валєнтіновіч, Молодкін Вадим Борисович, Карнаухов Іван Михайлович, Низкова Ганна Іванівна
МПК: G01N 23/20
Мітки: типами, діагностики, багатопараметричної, декількома, спосіб, дефектів, монокристалів, структурної
Формула / Реферат:
Спосіб багатопараметричної структурної діагностики монокристалів з декількома типами дефектів, що включає опромінення досліджуваного монокристала пучком рентгенівських променів вибраної довжини хвилі та відомої інтенсивності , здійснення у ньому Брегг-дифракції на системі площин, вимірювання за допомогою...
Спосіб багатопараметричної структурної діагностики монокристалів з декількома типами дефектів
Номер патенту: 36075
Опубліковано: 10.10.2008
Автори: Шпак Анатолій Петрович, Молодкін Вадим Борисович, Низкова Ганна Іванівна, Оліховський Степан Йосипович, Молодкін Віталій Вадимович, Лень Євген Георгійович, Ковальчук Михайло Валентинович, Кисловський Євген Миколайович, Білоцька Алла Олексіївна, Первак Катерина Вадимівна, Гинько Ігор Володимирович
МПК: G01N 23/20
Мітки: монокристалів, багатопараметричної, типами, діагностики, спосіб, дефектів, декількома, структурної
Формула / Реферат:
Спосіб багатопараметричної структурної діагностики монокристалів з декількома типами дефектів, який полягає в тому, що досліджуваний монокристал опромінюють пучком рентгенівських променів вибраної довжини хвилі і відомої інтенсивності , здійснюють в ньому брегг-дифракцію на системі площин (hkl), вимірюють...