Патенти з міткою «багатопараметричної»

Номер патенту: 65068

Опубліковано: 25.11.2011

Автори: Гумен Олена Миколаївна, Мартин Євген Володимирович, Лясковська Соломія Євгенівна

МПК: H02P 7/00

Мітки: регулювання, системі, багатопараметричної, пристрій

Формула / Реферат:

Пристрій для регулювання багатопараметричної системи, який містить перший блок регулювання, з'єднаний з другим і третім блоком регулювання, до одного з входів другого блока регулювання приєднаний вихід четвертого блока регулювання, вхід якого з'єднаний з виходом третього блока регулювання, який відрізняється тим, що додатково містить блок порівняння, компаратор і ключ, при цьому один з входів блока порівняння з'єднаний з виходом третього...

Номер патенту: 89594

Опубліковано: 10.02.2010

Автори: Кисловський Євген Миколайович, Молодкін Віталій Вадимович, Сторижко Володимир Юхимович, Ковальчук Міхаіл Валєнтіновіч, Татаренко Валентин Андрійович, Карнаухов Іван Михайлович, Барабаш Роза Ісаківна, Оліховський Степан Йосипович, Булавін Леонід Анатолійович, Айс Джин Емері, Низкова Ганна Іванівна, Білоцька Алла Олексіївна, Лень Євген Георгійович, Первак Катерина Вадимівна, Гинько Ігор Володимирович, Носик Валєрій Лєонідовіч, Шпак Анатолій Петрович, Молодкін Вадим Борисович

МПК: G01N 23/20

Мітки: типами, дефектів, структурної, багатопараметричної, діагностики, монокристалів, спосіб, декількома

Формула / Реферат:

Спосіб багатопараметричної структурної діагностики монокристалів з декількома типами дефектів, що включає опромінення досліджуваного монокристала пучком рентгенівських променів вибраної довжини хвилі  та відомої інтенсивності , здійснення у ньому Брегг-дифракції на системі площин, вимірювання за допомогою...

Номер патенту: 36075

Опубліковано: 10.10.2008

Автори: Первак Катерина Вадимівна, Оліховський Степан Йосипович, Білоцька Алла Олексіївна, Молодкін Вадим Борисович, Ковальчук Михайло Валентинович, Шпак Анатолій Петрович, Кисловський Євген Миколайович, Низкова Ганна Іванівна, Лень Євген Георгійович, Молодкін Віталій Вадимович, Гинько Ігор Володимирович

МПК: G01N 23/20

Мітки: декількома, монокристалів, типами, дефектів, багатопараметричної, структурної, діагностики, спосіб

Формула / Реферат:

Спосіб багатопараметричної структурної діагностики монокристалів з декількома типами дефектів, який полягає в тому, що досліджуваний монокристал опромінюють пучком рентгенівських променів вибраної довжини хвилі  і відомої інтенсивності , здійснюють в ньому брегг-дифракцію на системі площин (hkl), вимірюють...

Номер патенту: 41825

Опубліковано: 17.09.2001

Автори: Макаренков Анатолій Павлович, Рудницький Олександр Генадійович, Майданнік Віталій Григорович, Грінченко Віктор Тимофійович

МПК: A61B 7/00

Мітки: діагностики, захворювань, спосіб, багатопараметричної, легеневих

Формула / Реферат:

Спосіб багатопараметричної діагностики легеневих захворювань, який грун­тується на реєстрації і аудіовізуальній обробці дихальних шумів з наступ­ною комп'ютерною обробкою, який відрізняється тим, що реєстрацію ди­хальних шумів здійснюють синхронно і багатоканальне, після чого прово­дять статистичне кількісне перехресне порівняння між каналами характери­стик взаємних спектрів сигналів, що зареєстрували, їх функцій когерентності, спектрів...