Патенти з міткою «розсіюючих»
Імерсійний метод отримання топограм поверхонь дифузно розсіюючих об’єктів
Номер патенту: 93335
Опубліковано: 25.01.2011
Автори: Гоцульський Володимир Яковлевич, Лоторєв Володимир Олександрович, Санталов Олександр Сергійович, Попов Андрій Юрійович, Тюрин Олександр Валентинович, Сминтина Валентин Андрійович, Квітка Леонід Антонович
МПК: G01B 9/021, G01B 11/16
Мітки: топограм, поверхонь, дифузної, об'єктів, отримання, метод, імерсійний, розсіюючих
Формула / Реферат:
Імерсійний метод отримання топограм поверхонь дифузно розсіюючих об'єктів, який проводять методом фазомодульованої спекл-інтерферометрії, що включає операції: освітлюють об'єкт когерентним випромінюванням, здійснюють просторове суміщення об'єктної спекл-хвилі та опорної хвилі, в площині суміщення реєструють інтенсивності сумарної хвилі, перед реєстрацією сумарної хвилі здійснюють просторову фільтрацію діафрагмою до зникнення регулярних...
Імерсійний спосіб отримання топограм поверхонь дифузно розсіюючих об’єктів
Номер патенту: 54672
Опубліковано: 25.11.2010
Автори: Попов Андрій Юрійович, Лоторєв Володимир Олександрович, Квітка Леонід Антонович, Гоцульський Володимир Яковлевич, Тюрин Олександр Валентинович, Сминтина Валентин Андрійович, Санталов Олександр Сергійович
МПК: G01B 9/021
Мітки: об'єктів, отримання, імерсійний, спосіб, дифузної, розсіюючих, топограм, поверхонь
Формула / Реферат:
Імерсійний спосіб отримання топограм поверхонь дифузно розсіюючих об'єктів, який проводять методом фазомодульованої спекл-інтерферометрії, що включає наступні операції: освітлюють об'єкт когерентним випромінюванням, здійснюють просторове суміщення об'єктної спекл-хвилі та опорної хвилі, в площині суміщення реєструють інтенсивності сумарної хвилі, перед реєстрацією сумарної хвилі здійснюють просторову фільтрацію діафрагмою до зникнення...
Спосіб визначення структурної досконалості динамічно розсіюючих монокристалів
Номер патенту: 19220
Опубліковано: 25.12.1997
Автори: Ковальчук Михайло Валентинович, Литвинов Юрій Михайлович, Гуреєв Микола Анатолійович, Остапчук Анатолій Іванович, Кривицький Владислав Петрович, Поленур Олександр Вольфович, Гуреєв Анатолій Миколайович, Осиновський Максим Євгенович, Шпак Анатолій Петрович, Оліховський Степан Йосифович, Бідник Дмитро Ілліч, Бар'яхтар Віктор Григорович, Немошкаленко Володимир Володимирович, Кшевецький Станіслав Антонович, Низкова Ганна Іванівна, Кисловський Євген Миколайович, Молодкін Вадим Борисович, Когут Михайло Тихонович
МПК: G01N 23/20
Мітки: визначення, монокристалів, досконалості, спосіб, розсіюючих, динамічної, структурної
Формула / Реферат:
Способ определения структурного совершенства динамически рассеивающих монокристаллов, согласно котором исследуемый образец облучают полихроматическим пучком рентгеновского излучения и измеряют интегральную интенсивность рефлексов при дифракции излучения для двух положений при повороте образца и определяют статический фактор Дебая-Валлера Lн, отличающийся тем, что дифракцию излучения в обоих положениях образца осуществляют в геометрии Брэгга,...