Спосіб визначення структурної досконалості динамічно розсіюючих монокристалів

Формула / Реферат | Подібні патенти | МПК / Мітки | Додаткова інформація | Код посилання

Номер патенту: 19220

Опубліковано: 25.12.1997

Автори: Низкова Ганна Іванівна, Кисловський Євген Миколайович, Кривицький Владислав Петрович, Осиновський Максим Євгенович, Ковальчук Михайло Валентинович, Кшевецький Станіслав Антонович, Шпак Анатолій Петрович, Гуреєв Анатолій Миколайович, Бідник Дмитро Ілліч, Молодкін Вадим Борисович, Литвинов Юрій Михайлович, Оліховський Степан Йосифович, Когут Михайло Тихонович, Гуреєв Микола Анатолійович, Немошкаленко Володимир Володимирович, Бар'яхтар Віктор Григорович, Поленур Олександр Вольфович, Остапчук Анатолій Іванович

Завантажити PDF файл.

Формула / Реферат

Способ определения структурного совершенства динамически рассеивающих монокристаллов, согласно котором исследуемый образец облучают полихроматическим пучком рентгеновского излучения и измеряют интегральную интенсивность рефлексов при дифракции излучения для двух положений при повороте образца и определяют статический фактор Дебая-Валлера Lн, отличающийся тем, что дифракцию излучения в обоих положениях образца осуществляют в геометрии Брэгга, при этом поворот осуществляют на угол, при котором в обоих положениях реализуется отражения, характеризующееся одним вектором дифракции и разными длинами волн l1 и l2, по измеренным интегральным интенсивностям рассчитывают полные интегральные отражающие способности Rн (l1) и Rн (l2). определяют фактор Дебая-Валлера и эффективные коэффициенты поглощения диффузного фона из-за рассеяния сильных брэгговских и диффузных волн на искажениях решетки для волн l1 и l2 соответственно, из выражений Rн (lI)=f(Lн, (i=1,2), и по характеру зависимости L(Н) и 1*(Н) определяют тип дефектов и осуществляют их количественную диагностику.

Текст

Изобретение относится к рентгеновским дифракционным методам контроля степени структурного совершенства реальных кристаллов и может быть использовано при производстве монокристаллических материалов и приборов на их основе. Наиболее близким к предлагаемому изобретению является способ контроля структурного совершенства монокристаллов [4], заключающийся в том, что исследуемый образец облучают полихроматическим пучком рентгеновских лучей, при средней длине волны l1 выбранной из условия μο t

Дивитися

Додаткова інформація

Назва патенту англійською

Method for determination of structural perfectness of dynamically dispersing monocrystals

Автори англійською

Gyreiev Anatolii Mykolaiovych, Bariakhtar Viktor Hryhorovych, Gyreiev Mykola Anatoliiovych, Kohut Mykhailo Tykhonovych, Kryvytskyi Vladyslav Petrovych, Olikhovskyi Stepan Yosypovych, Osynovskyi Maksym Yevhenovych, Polenur Oleksandr Volfovych, Bidnyk Dmytro Illich, Kovalchuk Mykhailo Valentynovych, Kyslovskyi Yevhen Mykolaiovych, Lytvynov Yurii Mykhailovych, Molodkin Vadym Borysovych, Nemoshkalenko Volodymyr Volodymyrovych, Kshevetskyi Stanislav Antonovych, Ostapchuk Anatolii Ivanovych, Shpak Anatolii Petrovych

Назва патенту російською

Способ определения структурного совершенства динамически рассеивающих монокристаллов

Автори російською

Гуреев Анатолий Николаевич, Барьяхтар Виктор Григорьевич, Гуреев Николай Анатолиевич, Когут Михаил Тихонович, Кривицкий Владислав Петрович, Олиховский Степан Иосифович, Осиновский Максим Евгеньевич, Поленур Александр Вольфович, Бидник Дмитрий Ильич, Ковальчук Михаил Валентинович, Кисловский Евгений Николаевич, Литвинов Юрий Михайлович, Молодкин Вадим Борисович, Немошкаленко Владимир Владимирович, Кшевецкий Станислав Антонович, Остапчук Анатолий Иванович, Шпак Анатолий Петрович

МПК / Мітки

МПК: G01N 23/20

Мітки: досконалості, динамічної, структурної, розсіюючих, спосіб, визначення, монокристалів

Код посилання

<a href="https://ua.patents.su/4-19220-sposib-viznachennya-strukturno-doskonalosti-dinamichno-rozsiyuyuchikh-monokristaliv.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентів України">Спосіб визначення структурної досконалості динамічно розсіюючих монокристалів</a>

Подібні патенти