Оліховський Степан Йосифович
Спосіб визначення структурної досконалості динамічно розсіюючих монокристалів
Номер патенту: 19220
Опубліковано: 25.12.1997
Автори: Низкова Ганна Іванівна, Бідник Дмитро Ілліч, Кшевецький Станіслав Антонович, Кривицький Владислав Петрович, Шпак Анатолій Петрович, Остапчук Анатолій Іванович, Литвинов Юрій Михайлович, Когут Михайло Тихонович, Бар'яхтар Віктор Григорович, Ковальчук Михайло Валентинович, Гуреєв Анатолій Миколайович, Кисловський Євген Миколайович, Оліховський Степан Йосифович, Поленур Олександр Вольфович, Осиновський Максим Євгенович, Молодкін Вадим Борисович, Гуреєв Микола Анатолійович, Немошкаленко Володимир Володимирович
МПК: G01N 23/20
Мітки: розсіюючих, спосіб, динамічної, досконалості, структурної, монокристалів, визначення
Формула / Реферат:
Способ определения структурного совершенства динамически рассеивающих монокристаллов, согласно котором исследуемый образец облучают полихроматическим пучком рентгеновского излучения и измеряют интегральную интенсивность рефлексов при дифракции излучения для двух положений при повороте образца и определяют статический фактор Дебая-Валлера Lн, отличающийся тем, что дифракцию излучения в обоих положениях образца осуществляют в геометрии Брэгга,...