Гуреєв Анатолій Миколайович
Спосіб визначення структурної досконалості динамічно розсіюючих монокристалів
Номер патенту: 19220
Опубліковано: 25.12.1997
Автори: Кисловський Євген Миколайович, Кшевецький Станіслав Антонович, Гуреєв Анатолій Миколайович, Поленур Олександр Вольфович, Низкова Ганна Іванівна, Шпак Анатолій Петрович, Гуреєв Микола Анатолійович, Осиновський Максим Євгенович, Литвинов Юрій Михайлович, Молодкін Вадим Борисович, Бар'яхтар Віктор Григорович, Бідник Дмитро Ілліч, Ковальчук Михайло Валентинович, Кривицький Владислав Петрович, Немошкаленко Володимир Володимирович, Когут Михайло Тихонович, Остапчук Анатолій Іванович, Оліховський Степан Йосифович
МПК: G01N 23/20
Мітки: спосіб, визначення, монокристалів, динамічної, розсіюючих, досконалості, структурної
Формула / Реферат:
Способ определения структурного совершенства динамически рассеивающих монокристаллов, согласно котором исследуемый образец облучают полихроматическим пучком рентгеновского излучения и измеряют интегральную интенсивность рефлексов при дифракции излучения для двух положений при повороте образца и определяют статический фактор Дебая-Валлера Lн, отличающийся тем, что дифракцию излучения в обоих положениях образца осуществляют в геометрии Брэгга,...