Кшевецький Станіслав Антонович
Спосіб визначення структурної досконалості динамічно розсіюючих монокристалів
Номер патенту: 19220
Опубліковано: 25.12.1997
Автори: Гуреєв Анатолій Миколайович, Кисловський Євген Миколайович, Кшевецький Станіслав Антонович, Оліховський Степан Йосифович, Немошкаленко Володимир Володимирович, Молодкін Вадим Борисович, Бідник Дмитро Ілліч, Гуреєв Микола Анатолійович, Когут Михайло Тихонович, Бар'яхтар Віктор Григорович, Остапчук Анатолій Іванович, Ковальчук Михайло Валентинович, Поленур Олександр Вольфович, Кривицький Владислав Петрович, Осиновський Максим Євгенович, Шпак Анатолій Петрович, Литвинов Юрій Михайлович, Низкова Ганна Іванівна
МПК: G01N 23/20
Мітки: спосіб, монокристалів, структурної, динамічної, розсіюючих, визначення, досконалості
Формула / Реферат:
Способ определения структурного совершенства динамически рассеивающих монокристаллов, согласно котором исследуемый образец облучают полихроматическим пучком рентгеновского излучения и измеряют интегральную интенсивность рефлексов при дифракции излучения для двух положений при повороте образца и определяют статический фактор Дебая-Валлера Lн, отличающийся тем, что дифракцию излучения в обоих положениях образца осуществляют в геометрии Брэгга,...