Шпак Анатолій Петрович

Номер патенту: 18647

Опубліковано: 25.12.1997

Автори: Морозовський Олексій Дмитрович, Шпак Анатолій Петрович, Корнюшин Юрій Васильович, Павлюк Костянтин Іванович, Кобзенко Надія Сергіївна, Пшенцова Наталія Петрівна, Немошкаленко Володимир Володимирович, Нікітін Борис Григорович, Мельников Володимир Степанович

МПК: H01B 12/00

Мітки: одержання, керамічних, металооксидних, спосіб, високотемпературних, матеріалів

Формула / Реферат:

1. Способ получения высокотемпературных металлооксидных керамических материалов, при котором смешивают исходные порошки соединений, содержащих компоненты синтезируемого материала в стехиометрическом соотношении, прессуют порошки, спекают прессованную заготовку и термообрабатывают в кислородсодержащей атмосфере, отличающийся тем, что термообработку проводят при атмосферном давлении, понижая температуру от 773К посредством ряда циклов, в каждом...

Номер патенту: 17146

Опубліковано: 18.03.1997

Автори: Шпак Анатолій Петрович, Гинько Ігор Володимирович, Немошкаленко Володимир Володимирович, Кютт Регінальд Миколайович, Молодкін Вадим Борисович, Когут Михайло Тихонович, Кисловський Євген Миколайович, Низкова Ганна Іванівна, Бар'яхтар Віктор Григорович, Оліховський Степан Йосипович, Коhrа К., Грищенко Тарас Аркадійович, Сhікаwа J., Ковальчук Михайло Валентинович

МПК: G01B 15/00, G01N 23/22

Мітки: структурної, спосіб, монокристалів, досконалостів, контролю

Формула / Реферат:

Способ контроля структурного совершенства монокристаллов, включающий облучение исследуемого образца известной толщины  пучком рентгеновского излучения с длиной волны  выбранной из условия  осуществление в нем лауэ-дифракции, характеризуемой вектором дифракции при наклоне образца в угловом диапазоне  вокруг вектора  с сохранением дифракционных условий, измерение толщинной зависимости полной интегральной отражательной способности (ПИОС)  где...

Номер патенту: 14831

Опубліковано: 18.02.1997

Автори: Молодкін Вадим Борисович, Кисловський Євген Миколайович, Низкова Ганна Іванівна, Грищенко Тарас Аркадійович, Бар'яхтар Віктор Григорович, Немошкаленко Володимир Володимирович, Шпак Анатолій Петрович, Ковальчук Міхаіл Валєнтіновіч, Когут Михайло Тихонович, Кютт Регінальд Ніколаєвіч, Оліховський Степан Йосипович, Гинько Ігор Володимирович

МПК: G01N 23/20

Мітки: спосіб, досконалості, контролю, структурної, монокристалів

Формула / Реферат:

Способ контроля структурного совершенства монокристаллов, заключающийся в том, что исследуемый кристалл-образец толщиной  облучают пучком рентгеновского излучения с длиной волны  выбранной из условия  - линейный коэффициент фотоэлектрического поглощения), осуществляют на нем лауэ-дифракцию с вектором дифракции  измеряют толщинные зависимости интегральной отражательной способности образца  где   путем наклона образца в угловом диапазоне  от...