Спосіб отримання термоелектричного матеріалу
Номер патенту: 56654
Опубліковано: 25.01.2011
Формула / Реферат
1. Спосіб отримання термоелектричного матеріалу, який включає підготовку вихідних компонентів, вирощування твердих розчинів методом Бріджмена та виготовлення зразків термоелектричного матеріалу, який відрізняється тим, що як вихідні компоненти використовують ртуть, марганець, сірку у співвідношенні, яке визначається стехіометричним складом твердого розчину Hg1-хMnxS, а виготовлені зразки відпалюють у парах сірки.
2. Спосіб за п. 1, який відрізняється тим, що при підготовці вихідних компонентів до них додають залізо у кількості, яка визначається стехіометричним складом твердого розчину Hg1-х-уMnxFeyS.
Текст
1. Спосіб отримання термоелектричного матеріалу, який включає підготовку вихідних компонентів, вирощування твердих розчинів методом 3 56654 твердого розчину. Проводять синтез кристалу, для чого ампулу поміщують у піч, температура якої є вищою від температури плавлення вихідних компонентів та витримують ампулу при цій температурі, після чого поступово охолоджують її до кімнатної температури. Внаслідок цього отримують синтезований кристал, який надалі вирощують методом Бріджмена. З отриманих твердих розчинів стехіометричного складу Hg1-хMnxS виготовляють зразки, які відпалюють у парах сірки. За іншим варіантом виготовлення до складу вихідних компонентів додають залізо, а подальше вирощування кристалу проводять за вищеописаним методом. При проведенні експериментальних досліджень синтез кристалів проводився при темпера 4 турі 900 °С протягом 200 годин, а відпал зразків у парах сірки проводився при температурі 200 °С протягом 300 годин. Були отримані зразки термоелектричного матеріалу Hg1-хMnxS та Hg1-х-уMnxFeyS з провідністю n-типу , концентрацією електронів n~1018 см-3. На отриманих зразках були проведені виміри термо-е.р.с. (), питомої електропровідності (), та при відомому значенні теплопровідності () визначався коефіцієнт термоелектричної добротності. Результати вимірів термоелектричної добротності для зразків Hg1-хMnxS представлені в таблиці 1, а результати вимірів добротності для зразків Hg1-хуMnxFeyS представлені у таблиці 2. Табл. 1 Коефіцієнт термоелектричної добротності кристалів Hg1-хMnxS x 0,017 0,03 0,12 n10-18, см-3 1,1 12 2,4 5,9 , Ом-1см-1 184 488 593 78 -, мкВ/град 200 95 154 180 Z103, град-1 0,37 0,22 0,7 0,13 Відпал до відпалу до відпалу відпал в парах сірки до відпалу Табл. 2 Коефіцієнт термоелектричної добротності кристалів Hg1-х-уMnxFeyS (x+y) 0,037 0,06 0,1 -18 -3 n10 , см 14 1,6 2,1 42 , Ом см 464 360 320 120 -1 -1 -, мкВ/град 50 120 160 450 Як видно із приведених даних, введення атомів сірки і заліза, а також додатковий відпал у парах сірки згідно запропонованого способу приво Комп’ютерна верстка І.Скворцова 3 Z10 , град 0,06 0,26 0,41 1,22 -1 Відпал до відпалу до відпалу відпал в парах сірки до відпалу дить до суттєвого збільшення термоелектричної добротності отриманих зразків. Підписне Тираж 23 прим. Міністерство освіти і науки України Державний департамент інтелектуальної власності, вул. Урицького, 45, м. Київ, МСП, 03680, Україна ДП “Український інститут промислової власності”, вул. Глазунова, 1, м. Київ – 42, 01601
ДивитисяДодаткова інформація
Назва патенту англійськоюMethod for producing thermoelectric material
Автори англійськоюAndrushchak Halyna Olehivna, Marianchuk Pavlo Dmytrovych
Назва патенту російськоюСпособ получения термоэлектрического материала
Автори російськоюАндрущак Галина Олеговна, Марьянчук Павел Дмитриевич
МПК / Мітки
МПК: C30B 13/00
Мітки: отримання, термоелектричного, спосіб, матеріалу
Код посилання
<a href="https://ua.patents.su/2-56654-sposib-otrimannya-termoelektrichnogo-materialu.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентів України">Спосіб отримання термоелектричного матеріалу</a>
Попередній патент: Процес отримання оптичного матеріалу на основі znsb
Наступний патент: Пристрій для підведення мастильно-охолодної рідини
Випадковий патент: Спосіб обробки морських організмів