G01R 3/00 — Способи та пристрої для виготовлення вимірювальних приладів

Номер патенту: 118459

Опубліковано: 10.08.2017

Автори: Зімич Андрій Іванович, Маслюк Володимир Трохимович, Луньов Сергій Валентинович, Хвищун Микола В'ячеславович

МПК: C30B 15/00, C30B 33/02, C30B 33/04 ...

Мітки: отримання, спосіб, магніточутливого, мікросенсора

Формула / Реферат:

Спосіб отримання магніточутливого мікросенсора, що включає одержання напівпровідникового домішкового монокристалу, піддавання його ізотермічному відпалу та з'єднання після охолодження до кімнатної температури з двома парами контактів, який відрізняється тим, що домішковий монокристал виготовляють з речовини n-типу провідності, та додатково опромінюють його потоком високоенергетичних електронів, а ізотермічний відпал здійснюють після...

Номер патенту: 111241

Опубліковано: 10.11.2016

Автори: Студеняк Віктор Ігорович, Бендак Андрій Васильович, Ковальчук Олександр Васильович, Студеняк Ігор Петрович, Копчанський Петер, Тімко Мілан

МПК: G02F 1/13, G01R 3/00

Мітки: підвищення, cu6ps5i, шляхом, наночастинок, кристалу, провідності, нього, нематичного, суперіонного, внесення, 6снвт, електричної, рідкого, провідника, спосіб

Формула / Реферат:

Спосіб підвищення електричної провідності композита на основі нематичного рідкого кристалу 6СНВТ, який відрізняється тим, що в гомогенний нематичний рідкий кристал 6СНВТ вносять наночастинки суперінного провідника Cu6PS5I, внаслідок чого отриманий композит має електричну провідність, яка перевищує електричну провідність нематичного рідкого кристалу 6СНВТ без наночастинок майже на порядок.

Номер патенту: 56212

Опубліковано: 10.01.2011

Автори: Скирута Михайло Андрійович, Скрипник Юрій Олексійович, Кузнєцов Олександр Юрійович

МПК: G01R 3/00

Мітки: спосіб, пошкодження, місця, визначення, лінії, довжини, передачі, електричної

Формула / Реферат:

Спосіб визначення довжини електричної лінії передачі до місця пошкодження, при якому генерують періодичну послідовність зондуючих імпульсів, приймають на вході лінії послідовність зондуючих і відбитих імпульсів, вимірюють затримку відбитих імпульсів відносно зондуючих і визначають довжину електричної лінії передачі за формулою, який відрізняється тим, що зондуючі імпульси вибирають однополярні, після вимірювання затримки відбитих імпульсів...

Номер патенту: 43777

Опубліковано: 25.08.2009

Автори: Андрійчук Юрій Андрійович, Кальченко Валерій Миколайович, Проценко В'ячеслав Олександрович, Лучніков Володимир Андрійович, Середохін Володимир Олексійович, Немчин Олександр Федорович, Мар'єнко Анатолій Васильович, Лушкін Володимир Андрійович

МПК: G01R 3/00, G01R 11/00, G05B 23/02 ...

Мітки: спосіб, енергії, аналізаторів, якості, електричної, виготовлення

Формула / Реферат:

1. Спосіб виготовлення аналізаторів якості електричної енергії, за яким аналізатори якості електричної енергії поділяють на функціонально закінчені складові частини, а саме: вузол подільників вхідних напруг, вузол комутації, блок аналого-цифрового перетворення, блок обчислення параметрів якості електричної енергії зі схемами внутрішньої пам'яті та зовнішнього інтерфейсу, блок індикації, регулювання та перевірку параметрів аналізаторів якості...

Номер патенту: 38329

Опубліковано: 12.01.2009

Автори: Мар'єнко Анатолій Васильович, Присяжнюк Олег Арсенійович, Немчин Олександр Федорович, Зоммер Анатолій Еммануїлович, Коваль Василь Олексійович, Лучніков Володимир Андрійович, Проценко В'ячеслав Олександрович, Середохін Володимир Олексійович, Андрійчук Юрій Андрійович

МПК: G05B 23/02, G01R 3/00, G01R 11/00 ...

Мітки: електричної, параметрів, спосіб, лічильників, регулювання, енергії, виробництва, перевірки

Формула / Реферат:

Спосіб регулювання та перевірки параметрів лічильників електричної енергії під час їх виробництва, що включає поділ лічильників електричної енергії на функціонально закінчені складові частини, а саме: трансформатори струму, датчики струму, блок аналого-цифрового перетворення, блок формування та підрахунку лічильних імпульсів із схемою зовнішнього інтерфейсу, лічильний пристрій-індикатор, регулювання та перевірку параметрів лічильників...

Номер патенту: 77499

Опубліковано: 15.12.2006

Автори: Мошель Микола Васильович, Поканевич Олексій Платонович, Клименко Анатолій Семенович, Попов Володимир Михайлович

МПК: H01L 21/66, G01R 3/00, G01N 13/00 ...

Мітки: виявленя, інтегральних, схем, зразках, напівпровідникових, спосіб, локальних, тепловиділення, приладів, джерел, кристалів

Формула / Реферат:

1. Спосіб виявлення локальних джерел тепловиділення в зразках кристалів  інтегральних схем та напівпровідникових приладів, за яким на контрольовану поверхню зразка кристала наносять тонку плівку холестеричного рідкого кристала, зразок закріплюється на нагріваному тримачі з терморегулятором і підключається до джерела електричного живлення, а локальні джерела тепловиділення виявляють за оптичними зображеннями в поляризаційному мікроскопі...