Спосіб визначення глибини та товщини внутрішнього шару тришарового пакета

Номер патенту: 27557

Опубліковано: 12.11.2007

Автори: Гавриш Павло Анатолійович, Кассов Валерій Дмитрович

МПК: B23K 37/00

Мітки: шару, товщини, розташування, спосіб, межі, визначення, наплавленого

Формула / Реферат:

Спосіб визначення товщини і розташування межі наплавленого шару за допомогою рухомого стрижня, який відрізняється тим, що виконується одночасне контролювання декількох наплавлених валиків спеціальним шаблоном з блоком рухомих стрижнів, який встановлюється на деталь,  при цьому рухомі стрижні шаблона своїми нижніми кінцівками контактують з верхівками наплавлених валиків деталі, а верхніми кінцівками визначається реальна межа наплавленого шару,...

Номер патенту: 48502

Опубліковано: 25.03.2010

Автори: Єременко Вадим Олексійович, Карплюк Олександр Іванович, Примаченко Іван Андрійович, Лисоченко Сергій Васильович, Жарких Юрій Серафимович, Третяк Олег Васильович

МПК: G01B 11/30

Мітки: приповерхневого, шару, спосіб, мікродефектного, товщини, пластинах, кремнію, визначення

Формула / Реферат:

Спосіб визначення товщини приповерхневого мікродефектного шару на пластинах кремнію, що включає опромінення зразка світлом і реєстрацію характеристик відбитої зразком частини опромінення, який відрізняється тим, що опромінення проводять в області прозорості кремнію інфрачервоним світлом з довжиною хвиль 1,3-27 мкм, а товщину приповерхневого мікродефектного шару на пластинах кремнію визначають за величиною довгохвильової межі густини шумів...

Номер патенту: 11259

Опубліковано: 15.12.2005

Автори: Шпак Анатолій Петрович, Барабаш Роза Ісаківна, Білоцька Алла Олексіївна, Молодкін Вадим Борисович, Когут Михайло Тихонович, Гинько Ігор Володимирович, Григор'єв Данило Олегович, Низкова Ганна Іванівна

МПК: G01N 23/20

Мітки: поверхневого, товщини, монокристалах, механічної, порушеного, шару, спосіб, обробки, визначення

Формула / Реферат:

Спосіб визначення товщини поверхневого порушеного шару в монокристалах після механічної обробки, що включає направлення на досліджуваний монокристалічний зразок пучка монохроматичного рентгенівського випромінювання, здійснення дифракції, вимірювання інтенсивності дифрагованого випромінювання і визначення товщини порушеного шару, який відрізняється тим, що здійснюють асиметричну Брегг-дифракцію, попередньо визначають кути падіння...

Номер патенту: 36639

Опубліковано: 10.11.2008

Автори: Карпаш Олег Михайлович, Карпаш Максим Олегович, Рибіцький Ігор Володимирович, Криничний Петро Якович

МПК: G01N 29/04, G01B 17/02

Мітки: корозійного, пошкодження, товщини, глибини, неруйнівного, спосіб, контролю, металевих, виробів

Формула / Реферат:

Спосіб неруйнівного контролю глибини корозійного пошкодження та товщини металевих виробів, що включає їх неперервне однобічне ультразвукове сканування за допомогою п'єзоперетворювача ультразвукових коливань і реєстрацію відбитих коливань від протилежних стінок поверхонь металевого виробу, який відрізняється тим, що п'єзоперетворювач ультразвукових коливань розміщують над виробом на сталій висоті між п'єзоперетворювачем і стінкою виробу,...

Номер патенту: 6938

Опубліковано: 31.03.1995

Автори: Погорелов Олег Олексійович, Панін Анатолій Володимирович

МПК: G05D 27/00, G01N 21/47

Мітки: освітленого, визначення, апараті, шару, спосіб, згущувальному, глибини

Формула / Реферат:

(57) 1. Способ определения глубины осветленного слоя  в  сгустительном аппарате, включающий  измерение  концентрации твердой фазы на глубине h1 относительно поверхности слива, отличающийся тем, что дополнительно измеряют концентрацию твердой фазы на глубине h2, а глубину осветленного слоя определяют по формулеС1, С2 - соответственно концентрации твердой фазы на глубине h1, относительно поверхности слива и на глубине...