Воронько Андрій Олександрович

Пристрій керування формуванням наноелектронних структур

Завантаження...

Номер патенту: 90571

Опубліковано: 11.05.2010

Автори: Ларкін Сергій Юрійович, Воронько Андрій Олександрович, Золот Анатолій Іванович, Ходаковський Микола Іванович

МПК: H01L 21/00

Мітки: наноелектронних, структур, керування, пристрій, формуванням

Формула / Реферат:

Пристрій керування формуванням наноелектронних структур, який містить блок керування параметрами пристрою, вхід якого є входом пристрою, а вихід з'єднаний з входом блока керування тунельним струмом, другий вихід блока керування параметрами пристрою з'єднаний з входом блока сканування вістрям структури, вихід блока сканування вістрям структури з'єднаний з входом блока керування тунельним струмом, вихід блока керування тунельним струмом...

Пристрій зі змінним драйвером для тестування лазерів та світлодіодів

Завантаження...

Номер патенту: 42435

Опубліковано: 10.07.2009

Автори: Воронько Андрій Олександрович, Русанов Анатолій Григорьєвич, Москаленко Михайло Андрійович, Ларкін Сергій Юрійович, Мержвинський Павло Анатолійович, Мержвинський Анатолій Олександрович, Карпінський Константин Борисович

МПК: H01L 21/00

Мітки: драйвером, тестування, світлодіодів, пристрій, змінним, лазерів

Формула / Реферат:

1. Пристрій зі змінним драйвером для тестування лазерів та світлодіодів, який містить модулятор, перший вхід якого є входом даних, джерело напруги зміщення, джерело струму зміщення, вихід якого з'єднаний з виходом модулятора, схему корекції струму зміщення, схему контролю лазера, перший вхід якої з'єднаний з входом схеми корекції, блок тестового випромінювача, електричний вхід якого з'єднаний з виходом модулятора, перший електричний вихід...

Спосіб кристалізації лазерних гетероструктур ingaas/іn0,2al0,3ga0,5as, з квантовими точками inas/ingaas

Завантаження...

Номер патенту: 41229

Опубліковано: 12.05.2009

Автори: Голяка Роман Любомирович, Круковський Семен Іванович, Воронько Андрій Олександрович, Михащук Юрій Сергійович, Ларкін Сергій Юрійович

МПК: H01L 21/28, H01L 21/00

Мітки: лазерних, точками, квантовими, гетероструктур, спосіб, кристалізації

Формула / Реферат:

Спосіб кристалізації лазерних гетероструктур InGaAs/Іn0,2Al0,3Ga0,5As, з квантовими точками InAs/InGaAs, що включає послідовне нарощування на підкладці GaAs метаморфного буфера InGaAs, p- та n-емітерів Іn0,2Al0,3Ga0,5As, який відрізняється тим, що формування квантових точок на поверхні епітаксійних шарів InGaAs (Іn0,2Al0,3Ga0,5As) здійснюється в присутності атомів гадолінію в кількостях від 5,0∙1010см-2 до 2,0∙1011см-2.

Спосіб визначення інтегральної діелектричної сталої шаруватої речовини

Завантаження...

Номер патенту: 40991

Опубліковано: 27.04.2009

Автори: Воронько Андрій Олександрович, Лаунець Вілієн Львович, Вовченко Людмила Леонтіївна, Мацуй Людмила Юрівна, Олійник Віктор Валентинович

МПК: G01N 27/72

Мітки: визначення, сталої, інтегральної, спосіб, речовини, шаруватої, діелектричної

Формула / Реферат:

Спосіб визначення інтегральної діелектричної сталої шаруватої речовини, що включає вимірювання положення довільного мінімуму стоячої хвилі у хвилеводі, закритому на кінці металевою пластиною з малим електричним опором, та коефіцієнта стоячої хвилі і зсув того ж мінімуму при розміщенні плоского зразка із досліджуваної речовини у тому ж хвилеводі впритул до металевої пластини, вимірювання діелектричної сталої для двох товщин зразка, який...

Спосіб визначення кутових координат джерела оптичного випромінювання

Завантаження...

Номер патенту: 40305

Опубліковано: 25.03.2009

Автори: Потапова Галина Костянтинівна, Москаленко Михайло Андрійович, Туровський Анатолій Олександрович, Воронько Андрій Олександрович

МПК: H01L 31/05, H01L 31/042

Мітки: кутових, джерела, оптичного, випромінювання, спосіб, визначення, координат

Формула / Реферат:

Спосіб визначення кутових координат джерела оптичного випромінювання, який полягає в тому, що випромінювання джерела фокусують на позиційно-чутливу матрицю у світлову пляму, перетворюють оптичні сигнали на елементах матриці в електричні, формують сигнали, рівні сумам електричних сигналів з елементів матриці, порівнюють ці сигнали з порогом виявлення, за результатом порівняння приймають рішення про наявність і положення світлової плями на...

Позиційно-чутлива матриця фоточутливих елементів

Завантаження...

Номер патенту: 40278

Опубліковано: 25.03.2009

Автори: Туровський Анатолій Олександрович, Москаленко Ксенія Михайлівна, Воронько Андрій Олександрович, Потапова Галина Костянтинівна

МПК: H01L 31/042, H01L 31/05

Мітки: позиційно-чутлива, матриця, елементів, фоточутлівих

Формула / Реферат:

Позиційно-чутлива матриця фоточутливих елементів, фоточутливі елементи якої з'єднані у рядки та стовпці, елементи рядків і елементи стовпців з'єднані за сигналом паралельно, яка відрізняється тим, що рядки матриці утворені фоточутливими елементами, з'єднаними паралельно по сигналу вздовж діагоналей, паралельних рядкам матриці, а фоточутливі елементи, що належать до рядків матриці, вписані у ромбічні чарунки із діагоналями, паралельними до...

Спосіб виготовлення омічних контактів до шарів n-gan

Завантаження...

Номер патенту: 40277

Опубліковано: 25.03.2009

Автори: Ларкін Сергій Юрійович, Круковський Семен Іванович, Воронько Андрій Олександрович

МПК: H01L 21/02

Мітки: шарів, n-gan, спосіб, виготовлення, омічних, контактів

Формула / Реферат:

Спосіб виготовлення омічних контактів до n-GaN, що включає послідовне напилення шарів Ті, Аl на нагріту до 150-200 °С плівку n-GaN та їх термовідпал при температурі 890-910 °С протягом 30-90 секунд і наступне напилення шарів ТіВх, Аu, який відрізняється тим, що на поверхню шару Аl перед напиленням шару ТіВх наносять шар Yb товщиною від 7 нм до 13 нм.

Пристрій для виготовлення еталонних структур на основі атомно-силової мікроскопії електростатичних сил

Завантаження...

Номер патенту: 39552

Опубліковано: 25.02.2009

Автори: Золот Анатолій Іванович, Ходаковський Микола Іванович, Ларкін Сергій Юрійович, Воронько Андрій Олександрович

МПК: H01L 21/00

Мітки: сіль, еталонних, пристрій, атомно-силової, основі, виготовлення, електростатичних, структур, мікроскопі

Формула / Реферат:

Пристрій для виготовлення еталонних структур на основі атомно-силової мікроскопії електростатичних сил, що містить блок керування параметрами, вхід якого є входом пристрою, а вихід зв'язаний з входом блока прецизійного контролю форми верхівки вістря зонда, другий вихід блока керування параметрами зв'язаний з входом блока сканування вістряної структури, вихід блока сканування вістряної структури з'єднаний з входом блока прецизійного контролю...

Лінза з матеріалу з негативним показником заломлення

Завантаження...

Номер патенту: 39000

Опубліковано: 26.01.2009

Автори: Пермяков Віталій Васильович, Новікова Євгенія Іванівна, Воронько Андрій Олександрович, Бойло Ирина Вікторівна

МПК: G02B 3/00

Мітки: заломлення, негативним, лінза, показником, матеріалу

Формула / Реферат:

Лінза з матеріалу з негативним показником заломлення для одержання дійсного зображення об'єкта, обмежена плоскою і увігнутою фронтальними і бічною поверхнями, яка відрізняється тим, що увігнута фронтальна поверхня виконана сферичною з центром на оптичній осі, а бічна - конусною з вершиною, співпадаючою з центром цієї сфери.

Бленда

Завантаження...

Номер патенту: 85103

Опубліковано: 25.12.2008

Автори: Воронько Андрій Олександрович, Потапова Галина Костянтинівна

МПК: G02B 11/00

Мітки: бленда

Формула / Реферат:

1. Бленда, що має корпус, яка відрізняється тим, що виконана у вигляді присоски для кріплення до поверхні, через яку ведеться відеоспостереження, причому корпус виконаний з хоча б частково непрозорого у спектрі відеоспостереження еластично-пружного матеріалу, який частково деформується при кріпленні до поверхні.2. Бленда за п. 1, яка відрізняється тим, що додатково має хоча б частково прозору у спектрі відеоспостереження і герметично...

Бленда

Завантаження...

Номер патенту: 25817

Опубліковано: 27.08.2007

Автори: Потапова Галина Костянтинівна, Воронько Андрій Олександрович

МПК: G02B 11/00

Мітки: бленда

Формула / Реферат:

1. Бленда, що містить корпус, яка відрізняється тим, що виконана у вигляді присоска для кріплення до поверхні, через яку ведеться відеоспостереження, яка містить хоча б частково виконаний з еластично-пружного непрозорого у спектрі відеоспостереження матеріалу корпус, що частково деформується при кріпленні до поверхні.2. Бленда за п. 1, яка відрізняється тим, що в неї додатково введена прозора у спектрі відеоспостереження і...

Спосіб формування затвора нвч-транзистора

Завантаження...

Номер патенту: 23771

Опубліковано: 11.06.2007

Автори: Воронько Андрій Олександрович, Ларкін Сергій Юрійович, Костюкевич Сергій Олександрович

МПК: H01L 21/28

Мітки: затвора, нвч-транзистора, спосіб, формування

Формула / Реферат:

Спосіб формування субмікронного затвора НВЧ-транзистора, який полягає у тому, що у робочому n-шарі напівпровідникової пластини створюють канавку з розмірами, які визначаються необхідними напругою відсічки та струмом насичення, металізують канавку та пасивують поверхню пластини, який відрізняється тим, що канавку для затвора виконують шляхом зондової нанолітографії.

Спосіб формування субмікронної електродної системи затворів нвч-польових транзисторів

Завантаження...

Номер патенту: 23770

Опубліковано: 11.06.2007

Автори: Ларкін Сергій Юрійович, Воронько Андрій Олександрович, Костюкевич Сергій Олександрович

МПК: H01L 21/28

Мітки: електродної, транзисторів, системі, субмікронної, нвч-польових, спосіб, формування, затворів

Формула / Реферат:

Спосіб формування субмікронної електродної системи затворів НВЧ-польових транзисторів, який включає формування маски, осадження у вакуумі і видалення маски, який відрізняється тим, що для формування маски використовують фоторезист на основі шарів потрійного з'єднання:As40S60-x, де 5≤х≤25.

Пристрій для охолодження та термостабілізації напівпровідникового приладу

Завантаження...

Номер патенту: 22867

Опубліковано: 25.04.2007

Автори: Бобженко Сергій Володимирович, Воронько Андрій Олександрович, Пономаренко Анатолій Олександрович

МПК: H01L 23/34, H01S 5/00

Мітки: напівпровідникового, приладу, пристрій, охолодження, термостабілізації

Формула / Реферат:

1. Пристрій для охолодження та термостабілізації напівпровідникового приладу, що містить теплову трубу, камера випаровування якої знаходиться у тепловому контакті з напівпровідниковим кристалом, який відрізняється тим, що зона теплового контакту теплової труби з кристалом обмежена контактною площадкою напівпровідникового кристала, розташованою у зоні найбільшого тепловиділення.2. Пристрій для охолодження та термостабілізації...

Спосіб визначення кутових координат джерела оптичного випромінювання

Завантаження...

Номер патенту: 22866

Опубліковано: 25.04.2007

Автори: Воронько Андрій Олександрович, Потапова Галина Костянтинівна

МПК: H01L 31/05, H01L 31/042

Мітки: кутових, спосіб, джерела, оптичного, випромінювання, координат, визначення

Формула / Реферат:

Спосіб визначення кутових координат джерела оптичного випромінювання, що полягає у тому, що випромінювання джерела за допомогою оптичної системи фокусують на позиційно-чутливу матрицю у пляму розміром більше одного елемента матриці, на елементах матриці перетворюють оптичні сигнали в електричні сигнали, формують електричні сигнали, рівні сумам електричних сигналів від елементів матриці кожного непарного рядка, розташованих у непарних...

Спосіб отримання надтонкого шару оксиду для транзисторів з ефектом пам’яті

Завантаження...

Номер патенту: 22865

Опубліковано: 25.04.2007

Автори: Ларкін Сергій Юрійович, Воронько Андрій Олександрович

МПК: H01L 21/265, H01L 21/70

Мітки: ефектом, надтонкого, оксиду, отримання, транзисторів, шару, спосіб, пам'яті

Формула / Реферат:

Спосіб отримання тонких шарів оксиду SiO2, за яким тонкий шар оксиду осаджують з газової фази, відпалюють у атмосфері сухого азоту та опромінюють іонами кремнію, який відрізняється тим, що як імплантовані іони Si використовують низькоенергійні іони Si+ з енергією 1-2 кеВ, а відпал здійснюють при температурі 1030-1070 °С протягом 25-30 хв у атмосфері з вмістом кисню з залишковим тиском кисню 45-50 мбар.