Спосіб виготовлення монокристалічних плівок селеніду кадмію гексагональної структури на підкладинках шаруватих кристалів gаsе
Формула / Реферат
Спосіб виготовлення монокристалічних плівок селеніду кадмію гексагональної структури на підкладинках шаруватих кристалів GaSe, що включає їх відпал у парі кадмію, який відрізняється тим, що як підкладинки використовуються шаруваті кристали моноселеніду галію.
Текст
Реферат: Спосіб виготовлення монокристалічних плівок селеніду кадмію гексагональної структури на підкладинках шаруватих кристалів GaSe включає їх відпал у парі кадмію. Як підкладинки використовуються шаруваті кристали моноселеніду галію. UA 76617 U (54) СПОСІБ ВИГОТОВЛЕННЯ МОНОКРИСТАЛІЧНИХ ПЛІВОК СЕЛЕНІДУ КАДМІЮ ГЕКСАГОНАЛЬНОЇ СТРУКТУРИ НА ПІДКЛАДИНКАХ ШАРУВАТИХ КРИСТАЛІВ GаSе UA 76617 U UA 76617 U 5 10 15 20 25 30 35 40 45 Корисна модель належить до технології виготовлення напівпровідникових матеріалів, а саме сполуки CdSe на підкладинках із шаруватих кристалів GaSe. Найбільш близьким до способу, що заявляється, є метод отримання плівок CdSe, описаний в [1]. Базовими підкладинками були монокристалічні пластинки InSe. Шари CdSe, отримувались відпалом їх в парах кадмію при температурі Т в=350 °C, що приводить до утворення полікристалічних плівок CdSe. Тонкі плівки селеніду кадмію належить до напівпровідникових 2 6 матеріалів групи А В [2, 3]. Задача даної корисної моделі - створення монокристалічних плівок CdSe на GaSe. Шаруваті кристали мають анізотропні властивості, які обумовлені двома видами зв'язків між атомами в кристалі. Кожний шар в шаруватих кристалах, наприклад в GaSe, вміщує чотири атомні площини Se-Ga-Ga-Se, розміщені перпендикулярно осі симетрії С гексагонального кристалу. Всередині шарів зв'язок має іонно-ковалентний характер, сусідні шари зв'язані слабкими силами типу Ван-дер-Ваальса. Низька густина поверхневих станів на Ван-дерВаальсовій поверхні GaSe дозволяє застосовувати їх як підкладинки для вирощування інших шарів. Апробація запропонованого способу проводилась на підкладинках GaSe типорозміром 5×5×1 мм, які вирізались з об'ємних кристалів GaSe гексагональної структури. Ніякій додатковій обробці поверхня не піддавалась і це є однією з переваг підкладинок з шаруватою структурою перед підкладинками з інших матеріалів. Монокристали GaSe вирощувались методом Бріджмена. Електричні параметри цих 13 -3 2 5 -5 -1 кристалів при 300 K були наступні: ρ=10 см , μ=20 см /В·с, σ=0,3·10- Ом см . Селенід кадмію створювали ізотермічним відпалом підкладинок GaSe в парах Cd. Процес відпалу проходив в -4 ампулі, відкачаній до 10 Торр при температурі 400±5 °C протягом 20 годин. Формування плівок CdSe на Ван-дер-Ваальсовій поверхні (0001) GaSe відбувається в результаті температурного відпалу в термодинамічних рівноважних умовах в парах Cd і визначається процесами деформаційної і хімічної взаємодії між атомами шаруватого кристалу GaSe і паровою фазою Cd. Товщина отриманої плівки регулюється температурно-часовими параметрами. Вихідні монокристали GaSe мали 2Н модифікацію з параметрами ґратки (а=3,755 Ǻ і с=15,9451 Ǻ). В процесі відпалу матриці GaSe в парах кадмію відбуваються термічні напруги, які переводять GaSe з 2Н модифікації в 4Н (а=3,755 Ǻ і с=31,899 Ǻ) [4, 5]. На фіг. 1 показана рентгенограма GaSe-CdSe з наступними параметрами CdSe: a=4,3032 Ǻ; с=7,0201 Ǻ (стрілками вказані піки CdSe). Ці результати добре співпадають з результатами роботи [6] (а=4,30±0,1 Ǻ; с=7,01±0,2 Ǻ), що засвідчує про утворення на поверхні GaSe плівок CdSe. Дослідження фотолюмінесценції шарів CdSe при кімнатній температурі показали, що Eg=1,75 eB, що відповідає гексагональній сингонії CdSe (фіг. 2). Джерела інформації: 1. А. С № 1176646 (СССР) Способ получения пленок CdSe / Демчина Α.Α., Корбутяк Д.В, Ковалюк З.Д., Литовченко В.Г., Низкова А.И., Юрценюк С.П. ІІ VI 2. Физика и химия соединений А В /Пер. с англ. Под ред. Медведева С.А. М.: Мир.-1970.624 с. 3. Калинин И.П., Алексовский В.Б., Симашкевич А.В. Эпитаксиальные пленки соединений ІІ VI А В Л., Из-во ЛГУ.-1978.-311 с. 4. Верна Α., Кришна П. Полиморфизм и политипизм в кристаллах. М.: Мир, 1969, 274 с. 5. Terhell J.C. Polytypism in the III-Vl layer compounds. Progr. Cryst. Growth and Charact. 1983, 7. - P.55-110. 6. Гавриленко В.И., Греков A.M., Корбутяк Д.В., Литовченко В.Г. Оптические свойства полупроводников. Справочник. К.: Наукова Думка.-1987.-603 с. 50 ФОРМУЛА КОРИСНОЇ МОДЕЛІ 55 Спосіб виготовлення монокристалічних плівок селеніду кадмію гексагональної структури на підкладинках шаруватих кристалів GaSe, що включає їх відпал у парі кадмію, який відрізняється тим, що як підкладинки використовуються шаруваті кристали моноселеніду галію. 1 UA 76617 U Комп’ютерна верстка А. Крижанівський Державна служба інтелектуальної власності України, вул. Урицького, 45, м. Київ, МСП, 03680, Україна ДП “Український інститут промислової власності”, вул. Глазунова, 1, м. Київ – 42, 01601 2
ДивитисяДодаткова інформація
Назва патенту англійськоюMethod for manufacturing hexagonal structure cadmium selenide single-crystalline films on substrates of layered crystals gase
Автори англійськоюKudrinskyi Zakhar Ruslanovych
Назва патенту російськоюСпособ изготовления монокристаллических пленок кадмия гексагональной структуры на подкладках слоистых кристаллов gase
Автори російськоюКудринский Захар Русланович
МПК / Мітки
МПК: H01G 4/06
Мітки: селеніду, підкладинках, структури, кадмію, gаsе, виготовлення, плівок, спосіб, кристалів, шаруватих, монокристалічних, гексагональної
Код посилання
<a href="https://ua.patents.su/4-76617-sposib-vigotovlennya-monokristalichnikh-plivok-selenidu-kadmiyu-geksagonalno-strukturi-na-pidkladinkakh-sharuvatikh-kristaliv-gase.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентів України">Спосіб виготовлення монокристалічних плівок селеніду кадмію гексагональної структури на підкладинках шаруватих кристалів gаsе</a>
Попередній патент: Гетероциклічна конденсована система імідазо[1,2-b][1,3]тіазоло[3,2-d][1,2,4]триазол
Наступний патент: Спосіб виготовлення композитних виробів на основі карбіду кремнію
Випадковий патент: Спосіб діагностики дифузних змін паренхіми печінки при дослідженні за допомогою комп'ютерної томографії